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上海凱朗儀器設備廠
主營產品： DZF真空干燥箱|DZF真空干燥箱廠家|DZF真空干燥箱價格 |
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2012-6-15 閱讀(1330)
本部分適用于自動氣象站
下列文件中的條款通過本標準的引用而成為本標準的條款。凡是注日期的引用文件，其隨后所有的修改單（不包括勘誤的內容）或修訂版均不適用于本標準，然而，鼓勵根據本標準達成協議的各方研究是否可使用這些文件的版本。凡是不注日期的引用文件，其版本適用于本標準。
GB/T 2421 電工電子產品環(huán)境試驗 *部分：總則（idt 60068-1：1988）
GB/T 2423.1 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗 A：低溫
GB/T 2423.2 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗 B：高溫
GB/T 2423.4 電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗 Db：交變濕熱試驗方法
GB/T 2423.5 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Ea和導則：沖擊
GB/T 2423.7 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Ec和導則：傾跌與翻倒
GB/T 2423.8 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Ed：自由跌落
GB/T 2423.10 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Fc和導則：振動（正弦）
GB/T 2423.11 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Fd：寬頻帶隨機振動 一般要求
GB/T 2423.14 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Fdc：寬頻帶隨機振動 低再現性
GB/T 2423.16 電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗 J：長霉試驗方法
GB/T 2423.17 電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗 Ka：鹽霧試驗方法
GB/T 2423.21 電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗 M：低氣壓試驗方法
GB/T 2423.31 電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程 傾斜和搖擺試驗方法
GB/T 2423.37 電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗 L：砂塵試驗方法
GB/T 4208 外殼防護等級（IP代碼）
上海凱朗儀器設備廠主要生產：生化培養(yǎng)箱,霉菌培養(yǎng)箱,光照培養(yǎng)箱,人工氣候箱,恒溫恒濕,低溫生化培養(yǎng)箱,恒溫培養(yǎng)振蕩器（搖床）系列及光照恒溫培養(yǎng)搖床系列和高低溫試驗箱，高低溫恒定濕熱試驗箱，高低溫交變濕熱試驗箱，高低溫沖擊試驗箱，溫度快速變化試驗箱，鹽霧腐蝕試驗箱，老化試驗箱，真空、鼓風、高溫干燥箱等各種環(huán)境類試驗設備。
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