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X熒光光譜儀的優(yōu)勢和劣勢有哪些
閱讀：2555 發(fā)布時間：2017-4-20
X熒光光譜儀的優(yōu)勢和劣勢有哪些？請看下面說明：
光譜儀優(yōu)勢:
a)分析速度快。測定用時與測定精密度有關，但一般都很短，2～5分鐘就可以測完樣品中的全部待測元素。
b) X射線熒光光譜跟樣品的化學結合狀態(tài)無關，而且跟固體、粉末、液體及晶質、非晶質等物質的狀態(tài)也基本上沒有關系。(氣體密封在容器內也可分析)但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長變化等現象。特別是在*軟X射線范圍內，這種效應更為顯著。波長變化用于化學位的測定。
c)非破壞分析。在測定中不會引起化學狀態(tài)的改變，也不會出現試樣飛散現象。同一試樣可反復多次測量，結果重現性好。
d) X射線熒光分析是一種物理分析方法，所以對在化學性質上屬同一族的元素也能進行分析。
e)分析精密度高。
f)制樣簡單，固體、粉末、液體樣品等都可以進行分析。
光譜儀劣勢：
a)難于作分析，故定量分析需要標樣。
b)對輕元素檢測的靈敏度要低一些。c)容易受相互元素干擾和疊加峰影響。