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日本理學(xué)波長X射線熒光光譜儀對(duì)巖石樣品的定點(diǎn)分析及面掃描分析
廣州儀德精密科學(xué)儀器股份有限公司專業(yè)銷售日本理學(xué)波譜，波譜不限于材料的形狀，應(yīng)用多領(lǐng)域金屬元素的測定分析。本文章簡單介紹日本理學(xué)ZSXPrimusⅣ波長X射線熒光光譜儀對(duì)巖石樣品的定點(diǎn)分析及面掃描分析，為礦石領(lǐng)域?qū)r石測定分析提供寶貴經(jīng)驗(yàn)。
使用儀器分析室內(nèi)置的相機(jī)將巖石樣品中需要關(guān)注的測量范圍放大后進(jìn)行了分析。
紅框內(nèi)擴(kuò)大了的范圍由右圖表示。
可以更精密地測量位置。
面掃3描分析結(jié)果
微區(qū)測繪
測繪數(shù)據(jù)的測繪視圖統(tǒng)合為以攝像圖和數(shù)據(jù)(圖、測量數(shù)據(jù))來表示。圖示種類有不同模式，可以采用有效的圖示。
各測量點(diǎn)的Mg-Kα的譜線比較
SQX方法做的定點(diǎn)分析結(jié)果
γ-θ樣品臺(tái)*解決了X射線照射不均以及分光晶體反射強(qiáng)度不均的問題，保證樣品在X射線強(qiáng)的條件下測量。
測角儀快速掃描定位精度在土0.00010之內(nèi)。γ-θ平臺(tái)分辦率為100μm,實(shí)現(xiàn)了快速準(zhǔn)確的點(diǎn)、線、面分析。