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覆層測(cè)厚儀如何校準(zhǔn)
閱讀：1375 發(fā)布時(shí)間：2017-12-15
覆層測(cè)厚儀如何校準(zhǔn)
覆層測(cè)厚儀如何校準(zhǔn)？珠海天創(chuàng)儀器公司為大家總結(jié)了以下幾點(diǎn)：
(1)實(shí)際測(cè)量時(shí)，應(yīng)當(dāng)選用與待測(cè)試件基體相同的材料作為校準(zhǔn)儀器用的基體。
(2)需注意所選用的基體的表面粗糙度與被測(cè)件基體的表面粗糙度盡可能一致。
(3)對(duì)基體金屬小厚度要求也是必須注意的測(cè)量條件。每一種儀器甚每一種儀器中的每一種探頭都有各自不同的基體金屬的臨界測(cè)量厚度。大于這個(gè)厚度，測(cè)量就不受基體厚度因素的影響。
(4)每一種儀器甚每一種儀器中的每一種探頭對(duì)被測(cè)件的基體小面積也是有要求的，大于這個(gè)面積，測(cè)量就不受基體面積因素的影響。
(5)基體表面曲率半徑對(duì)測(cè)量影響也較大。因?yàn)閮x器都規(guī)定了小曲率半徑，在實(shí)際測(cè)量時(shí)，為了減少測(cè)量誤差，應(yīng)當(dāng)選擇與待測(cè)試件具有相同曲率半徑的相同材料來作為校準(zhǔn)用基體，與校準(zhǔn)厚度片一起對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)。