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影響表面粗糙度測(cè)量?jī)x測(cè)量因素有哪些
影響表面粗糙度測(cè)量?jī)x測(cè)量因素有哪些
評(píng)價(jià)粗糙度參數(shù)的根據(jù)是粗糙度輪廓，是對(duì)原始輪廓用一個(gè)輪廓濾波器，抑制掉長(zhǎng)波成份而得到。 是輪廓偏離平均線(xiàn)的算術(shù)平均，并且是在一個(gè)取樣長(zhǎng)度內(nèi)定義的。
影響濾波數(shù)據(jù)的因素有：
1、取樣長(zhǎng)度和評(píng)定長(zhǎng)度的選用:取樣長(zhǎng)度是用于判別具有表面粗糙度特性的一段基準(zhǔn)線(xiàn)長(zhǎng)度。 評(píng)定長(zhǎng)度是用于評(píng)定粗糙度時(shí)必須取一段能
反映加工表面粗糙度特性的最小長(zhǎng)度。
2、濾波器的高、低通取樣長(zhǎng)度和帶寬比的選用也對(duì)測(cè)量結(jié)果有著十分重要的影響。取樣波長(zhǎng)是表面形貌測(cè)量時(shí)，儀器響應(yīng)的表面特性（ 表面波長(zhǎng)） 的最長(zhǎng)間距，其范圍通常是 0.08mm～ 8mm。
表面粗糙度的測(cè)量方法基本上可分為接觸式測(cè)量 和非接觸式測(cè)量?jī)深?lèi)。在接觸式測(cè)量中主要有比較法、印模法、觸針?lè)ǖ龋环墙佑|測(cè)量方式中常用的有光切法、實(shí)時(shí)全息法、散斑法、像散測(cè)定法、光外差法、 AFM、光學(xué)傳感器法等。
觸針式表面粗糙度測(cè)量?jī)x是常用、方便、 可靠的表面粗糙度測(cè)量?jī)x，并且一直是各國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)及國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)制定的依據(jù)。根據(jù)傳感器的不同原理，觸針式粗糙度儀可分為電感式、壓電式、光電式、 激光式和光柵式等，還可以分為有導(dǎo)頭式和無(wú)導(dǎo)頭式。導(dǎo)頭式粗糙度儀僅限用于測(cè)量表面粗糙度，而無(wú)導(dǎo)頭式粗糙度儀除可用于測(cè)量表面粗糙度外，還可用于 測(cè)量表面波紋度和表面幾何形狀。