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產(chǎn)品簡介
詳細介紹
GB/T 10589-2008 低溫試驗箱技術條件
GB/T 10592-2008 高低溫試驗箱技術條件
GB/T 2423.1-2008 低溫試驗方法
GB/T 2423.2-2008 高溫試驗方法
GB/T 2423.22-2008 溫度變化速率試驗方法
GJB 150.3A-2009 高溫試驗方法
GJB 150.4A-2009 低溫試驗方法
GJB 360B-2009 電子及電氣元件試驗方法
JJF 1101-2003 環(huán)境試驗設備溫度、濕度校準規(guī)范
GB/T 5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備檢驗方法 溫度試驗設備
- -70℃～-170℃任意溫度
- 30%以上
- 500升以內(nèi)均可輕松進實驗室，節(jié)約占地空間
- CFD的流體力學設計,風路循環(huán)更合理
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