• 以下為BioLogic春季/夏季網(wǎng)絡(luò)研討會(huì)概述，以及您如何參與此類(lèi)活動(dòng)的細(xì)節(jié)。

表面表征：

• 石英晶體微天平（QCM）：一系列4篇文章介紹了QCM的歷史&原理，泛音，測(cè)量原理&確保索伯里方程的有效性。
• Scan-Lab 101:LEIS；SKP；SECM，SVET，SDC：一系列5篇文章清楚地解釋了這些局部掃描技術(shù)的優(yōu)勢(shì)。
• 電解池連接：標(biāo)準(zhǔn)接地還是浮動(dòng)接地？CE to ground還是WE to ground？為您的應(yīng)用程序展示完美的設(shè)置。
• 依舊有技術(shù)小貼士：一系列簡(jiǎn)短的，簡(jiǎn)單直接的技術(shù)提示，幫助你節(jié)省時(shí)間和優(yōu)化工作流程。
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表面表征

材料的性能，通常由其表面性能（吸附性、粘彈性、異質(zhì)性等）來(lái)定義。因此，掃描技術(shù)，特別是SECM和QCM是材料表征的*工具。

本系列文章深入描述了石英晶體微天平技術(shù)的優(yōu)點(diǎn)，以及下面的后續(xù)系列（Scanning 101），都與這一科學(xué)主題密切相關(guān)。

聚焦QCM

QCM系列文章對(duì)這項(xiàng)技術(shù)進(jìn)行了深入的研究，從石英晶體微天平的歷史和原理到更實(shí)用的科學(xué)信息，如測(cè)量原理、如何確保Sauerbrey方程以及泛音測(cè)量的好處…

Scan-Lab 101：

LEIS、SKP、SECM、SVET、SDC

掃描探針電化學(xué)技術(shù)可以補(bǔ)充宏觀電化學(xué)測(cè)量，提供可視化局部電化學(xué)過(guò)程的能力。由于有五種不同的技術(shù)類(lèi)型，它們可以用來(lái)測(cè)量從局部功函數(shù)到阻抗的一系列特性。在我們的入門(mén)101系列中了解更多有關(guān)掃描探針電化學(xué)的信息，該系列涵蓋了這些有價(jià)值技術(shù)的基礎(chǔ)和應(yīng)用領(lǐng)域…

電解池連接

CE to Ground? WE to Ground? 標(biāo)準(zhǔn)接地還是標(biāo)準(zhǔn)浮動(dòng)？您的應(yīng)用程序的正確電解池連接設(shè)置是什么？在這篇簡(jiǎn)單易讀的系列文章中，我們將解釋如何根據(jù)您的應(yīng)用程序確定設(shè)置…

優(yōu)化工作流程的技術(shù)提示

EC-Lab和BT-Lab有豐富的功能，旨在幫助您更智能、更快地工作。它可能只是一個(gè)簡(jiǎn)單的捷徑，或者它本身就是一種技術(shù)。本文為您提供了一個(gè)快速想法的列表，幫助您充分利用您的儀器，簡(jiǎn)化您的工作流程，并更有效地管理您的實(shí)驗(yàn)。讓您的工作更加的智能…