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高低溫試驗箱測試流程分享
閱讀：397 發(fā)布時間：2022-9-27
高低溫試驗箱廣泛應用于電子、機械、航天、航空、汽電動車、化工、醫(yī)藥等行業(yè)，用于檢驗產品在高低溫環(huán)境下發(fā)生的化學變化和物理變化，可以在短時間內檢驗產品的各項性能。所以在日常使用過程中懂得科學的維護知識，對于避免保障事故的發(fā)生、增加產品使用壽命有著十分重要的作用。
1、在樣品斷電的狀態(tài)下，先將溫度下降到-50°C，保持4個小時；請勿在樣品通電的狀態(tài)下進行低溫測試，非常重要，因為通電狀態(tài)下，芯片本身就會產生+20°C以上溫度，所以，在通電狀態(tài)下，通常比較容易通過低溫測試，必須先將其“凍透"，再次通電進行測試。
2、開機，對樣品進行性能測試，對比性能與常溫相比是否正常。
3、進行老化測試，觀察是否有數據對比錯誤。
4、升溫到+90°C，保持4個小時，與低溫測試相反，升溫過程不斷電，保持芯片內部的溫度一直處于高溫狀態(tài)，4個小時后，執(zhí)行2、3、4測試步驟。
5、高溫和低溫測試分別重復10次。
如果測試過程出現任何一次不能正常工作的狀態(tài)，則視為測試失敗。