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高低溫試驗(yàn)箱測(cè)試流程分享
閱讀：399 發(fā)布時(shí)間：2022-9-27
高低溫試驗(yàn)箱廣泛應(yīng)用于電子、機(jī)械、航天、航空、汽電動(dòng)車、化工、醫(yī)藥等行業(yè)，用于檢驗(yàn)產(chǎn)品在高低溫環(huán)境下發(fā)生的化學(xué)變化和物理變化，可以在短時(shí)間內(nèi)檢驗(yàn)產(chǎn)品的各項(xiàng)性能。所以在日常使用過(guò)程中懂得科學(xué)的維護(hù)知識(shí)，對(duì)于避免保障事故的發(fā)生、增加產(chǎn)品使用壽命有著十分重要的作用。
1、在樣品斷電的狀態(tài)下，先將溫度下降到-50°C，保持4個(gè)小時(shí)；請(qǐng)勿在樣品通電的狀態(tài)下進(jìn)行低溫測(cè)試，非常重要，因?yàn)橥姞顟B(tài)下，芯片本身就會(huì)產(chǎn)生+20°C以上溫度，所以，在通電狀態(tài)下，通常比較容易通過(guò)低溫測(cè)試，必須先將其“凍透"，再次通電進(jìn)行測(cè)試。
2、開機(jī)，對(duì)樣品進(jìn)行性能測(cè)試，對(duì)比性能與常溫相比是否正常。
3、進(jìn)行老化測(cè)試，觀察是否有數(shù)據(jù)對(duì)比錯(cuò)誤。
4、升溫到+90°C，保持4個(gè)小時(shí)，與低溫測(cè)試相反，升溫過(guò)程不斷電，保持芯片內(nèi)部的溫度一直處于高溫狀態(tài)，4個(gè)小時(shí)后，執(zhí)行2、3、4測(cè)試步驟。
5、高溫和低溫測(cè)試分別重復(fù)10次。
如果測(cè)試過(guò)程出現(xiàn)任何一次不能正常工作的狀態(tài)，則視為測(cè)試失敗。