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詳細摘要：儀器測試電纜采用硅橡膠以及其他特種絕緣材料復(fù)合制作而成，輕便柔軟，10KV電壓等級下可拖地使用。

詳細摘要：全自動化測試，中文操作界面，用戶使用方便；儀器自帶幫助菜單，方便用戶對儀器進行故障分析。

詳細摘要：變頻抗干擾介質(zhì)損耗測試儀是用于超高壓現(xiàn)場介損的測量,用變頻抗干擾和傅立葉數(shù)字濾波技術(shù),保持強電場干擾下測量數(shù)據(jù)穩(wěn)定、可靠;測量結(jié)果由大屏幕雙色液晶屏清晰顯示,全中文操作界面,使用極其方便。

詳細摘要：抗干擾能力強，在500KV（甚至更高）電壓等級下的變電站的現(xiàn)場也能保持結(jié)果穩(wěn)定、可靠，不僅能單頻測試，也可實現(xiàn)45/55Hz雙頻測試。

詳細摘要：變頻抗干擾介質(zhì)損耗測試儀是用于超高壓現(xiàn)場介損的測量,用變頻抗干擾和傅立葉數(shù)字濾波技術(shù),保持強電場干擾下測量數(shù)據(jù)穩(wěn)定、可靠;測量結(jié)果由大屏幕雙色液晶屏清晰顯示,全中文操作界面,使用極其方便。

詳細摘要：儀器測試電纜采用硅橡膠以及其他特種絕緣材料復(fù)合制作而成，輕便柔軟，10KV電壓等級下可拖地使用。

詳細摘要：儀器測試電纜采用硅橡膠以及其他特種絕緣材料復(fù)合制作而成，輕便柔軟，10KV電壓等級下可拖地使用。

詳細摘要：抗干擾能力強，在500KV（甚至更高）電壓等級下的變電站的現(xiàn)場也能保持結(jié)果穩(wěn)定、可靠，不僅能單頻測試，也可實現(xiàn)45/55Hz雙頻測試。

詳細摘要：變頻抗干擾介質(zhì)損耗測試儀是用于超高壓現(xiàn)場介損的測量,用變頻抗干擾和傅立葉數(shù)字濾波技術(shù),保持強電場干擾下測量數(shù)據(jù)穩(wěn)定、可靠;測量結(jié)果由大屏幕雙色液晶屏清晰顯示,全中文操作界面,使用極其方便。

詳細摘要：它淘汰了QSI高壓電橋，具有操作簡單、中文顯示、打印、使用方便、無需換算、自帶高壓，抗干擾能力強， 測試時間短等優(yōu)點，是我廠的第三代智能化介質(zhì)損耗測試儀。

詳細摘要：它淘汰了QSI高壓電橋，具有操作簡單、中文顯示、打印、使用方便、無需換算、自帶高壓，抗干擾能力強， 測試時間短等優(yōu)點，是我廠的第三代智能化介質(zhì)損耗測試儀。

詳細摘要：它淘汰了QSI高壓電橋，具有操作簡單、中文顯示、打印、使用方便、無需換算、自帶高壓，抗干擾能力強， 測試時間短等優(yōu)點，是我廠的第三代智能化介質(zhì)損耗測試儀。

詳細摘要：它淘汰了QSI高壓電橋，具有操作簡單、中文顯示、打印、使用方便、無需換算、自帶高壓，抗干擾能力強， 測試時間短等優(yōu)點，是我廠的第三代智能化介質(zhì)損耗測試儀。

詳細摘要：本儀器是一種良好的測量介質(zhì)損耗（tgδ）和電容容量（Cx）的儀器，用于工頻高壓下，測量各種絕緣材料、絕緣套管、電力電纜、電容器、互感器、變壓器等高壓設(shè)備的介質(zhì)損耗（tgδ）和電容容量（Cx）。

詳細摘要：SXJS-IV油介質(zhì)損耗測試儀廠家

詳細摘要：SXJS-A SXJS-A全自動介質(zhì)損耗測試儀可以在工頻高電壓下， 現(xiàn)場測量各種絕緣材料、絕緣套管、電力電纜、電容器、互感器、變壓器等高壓設(shè)備的介質(zhì)損耗角正切(tgδ)和電容值(Cx)。與西林電容電橋相比，具有操作簡單、自動測量、讀數(shù)直觀、無需換算、精度高、抗干

詳細摘要：抗干擾介質(zhì)損耗測試儀/SXJS-B與西林電容電橋相比，具有操作簡單、自動測量、讀數(shù)直觀、無需換算、精度高、抗干擾能力強等優(yōu)點。儀器內(nèi)部標準電容器和升電壓裝置，在“內(nèi)接"方式下使用，無需其它外接設(shè)備，便于攜帶。

詳細摘要：勝緒變頻抗干擾介損測試儀/變頻抗干擾介損測試儀，變頻抗干擾介損測試儀同樣適用于車間、試驗室、科研單位測量高壓電器設(shè)備的tgδ及電容量；對絕緣油的損耗測試、更具有方便、簡單、準確等優(yōu)點。

詳細摘要：變頻介質(zhì)損耗測試儀/變頻介質(zhì)損耗測試儀參數(shù)，變頻介質(zhì)損耗測試儀經(jīng)過綜合比較，現(xiàn)研制一種新型介質(zhì)損耗測試儀，其原理不改變頻率，能得到50HZ條件下電容值cx及tgδ值，提高測量可靠性和準確性，*抑制電場干擾，滿足電場下的使用要求，該儀器體積Z小，重量Z輕

詳細摘要：全自動介質(zhì)損耗測試儀/全自動介質(zhì)損耗測試儀廠家，全自動介質(zhì)損耗測試儀具有多種測量方式，可選擇正/反接線、內(nèi)/外標準電容器、CVT測量(外接升壓器)和內(nèi)/外試驗電壓進行測量。