-
R系列加固型部分耗盡硅輻射探測(cè)器
主要應(yīng)用用于環(huán)境光線下在真空或空氣中進(jìn)行帶電粒子譜測(cè)量；可清潔
型號(hào)：
所在地：
參考價(jià)：
面議更新時(shí)間：2025/7/25 16:20:08
對(duì)比
-
F系列部分耗盡硅面壘型輻射探測(cè)器
主要應(yīng)用重離子譜學(xué)
型號(hào)：
所在地：
參考價(jià)：
面議更新時(shí)間：2025/7/25 16:18:43
對(duì)比
-
D系列平面型全耗盡硅面壘型輻射探測(cè)器
主要應(yīng)用用于重離子飛行時(shí)間測(cè)量
型號(hào)：
所在地：
參考價(jià)：
面議更新時(shí)間：2025/7/25 16:16:57
對(duì)比
-
C系列環(huán)形部分耗盡硅面壘型輻射探測(cè)器
主要應(yīng)用從準(zhǔn)直光源或光束目標(biāo)反向散射；角度相關(guān)測(cè)量
型號(hào)：
所在地：
參考價(jià)：
面議更新時(shí)間：2025/7/25 16:15:32
對(duì)比
-
B系列全耗盡硅面壘型輻射探測(cè)器
主要應(yīng)用粒子識(shí)別、望遠(yuǎn)探測(cè)器、任何類(lèi)型的E測(cè)量
型號(hào)：
所在地：
參考價(jià)：
面議更新時(shí)間：2025/7/25 16:13:47
對(duì)比
-
A系列部分耗盡硅面壘型輻射探測(cè)器
主要應(yīng)用高分辨率帶電粒子譜測(cè)量
型號(hào)：
所在地：
參考價(jià)：
面議更新時(shí)間：2025/7/25 16:12:00
對(duì)比
-
用于研究應(yīng)用的Si帶電粒子輻射探測(cè)器
ORTEC提供各種耗盡厚度的硅面壘型探測(cè)器，可滿足眾多研究應(yīng)用的需求
型號(hào)：
所在地：
參考價(jià)：
面議更新時(shí)間：2025/7/25 16:10:49
對(duì)比
-
用于α能譜測(cè)量的Si帶電粒子輻射探測(cè)器
能譜學(xué)中見(jiàn)的應(yīng)用領(lǐng)域是放射化學(xué)、保健物理和環(huán)境樣品的篩查
型號(hào)：
所在地：
參考價(jià)：
面議更新時(shí)間：2025/7/25 16:09:34
對(duì)比
-
硅帶電粒子輻射探測(cè)器
ORTEC在20世紀(jì)60年代早期推出了款用于帶電粒子譜測(cè)量的硅面壘型探測(cè)器
型號(hào)：
所在地：
參考價(jià)：
面議更新時(shí)間：2025/7/25 16:07:54
對(duì)比
-
HPGe輻射探測(cè)器選件和附件
型號(hào)：
所在地：
參考價(jià)：
面議更新時(shí)間：2025/7/25 16:06:34
對(duì)比
-
HPGe輻射探測(cè)器冷卻系統(tǒng)
低溫恒溫器、杜瓦瓶、低溫恒溫器/杜瓦瓶組件和電冷卻所有HPGe輻射探測(cè)器都需要冷卻到低溫，才能正常運(yùn)行
型號(hào)：
所在地：
參考價(jià)：
面議更新時(shí)間：2025/7/25 16:03:59
對(duì)比
-
特殊輻射探測(cè)器
ORTEC可為的應(yīng)用或更嚴(yán)格的性能要求提供特殊的探測(cè)器設(shè)計(jì)
型號(hào)：
所在地：
參考價(jià)：
面議更新時(shí)間：2025/7/25 16:02:50
對(duì)比
-
SPD-1潛水輻射探測(cè)器
ORTEC潛水光子探測(cè)器（SPD-1）專(zhuān)為乏燃料池中的核燃料元件掃描測(cè)量而設(shè)計(jì)
型號(hào)：
所在地：
參考價(jià)：
面議更新時(shí)間：2025/7/25 16:01:26
對(duì)比
-
TETRAD 適用于核物理相關(guān)應(yīng)用的N-型高純鍺(HPGe)探測(cè)器
ORTEC早在1970s就開(kāi)始N型高純鍺的制造領(lǐng)域，并且在1990s使用4個(gè)N型晶體的高純鍺制造出了TETRAD探測(cè)器
型號(hào)：
所在地：
參考價(jià)：
面議更新時(shí)間：2025/7/25 15:58:01
對(duì)比
-
高性能高純鍺（HPGe）平面輻射探測(cè)器，用于安全保障和非破壞性分析
專(zhuān)門(mén)設(shè)計(jì)用于滿足安全保障和NDA中所使用同位素比率軟件代碼的苛刻要求
型號(hào)：
所在地：
參考價(jià)：
面議更新時(shí)間：2025/7/25 15:56:39
對(duì)比
-
高性能高純鍺（HPGe）同軸輻射探測(cè)器，用于安全保障和非破壞性分析
專(zhuān)門(mén)設(shè)計(jì)用于滿足安全保障和NDA中所使用同位素比率軟件代碼的苛刻要求
型號(hào)：
所在地：
參考價(jià)：
面議更新時(shí)間：2025/7/25 15:55:05
對(duì)比
-
GLP系列平面HPGe低能輻射探測(cè)器
在3至300keV范圍內(nèi)具有出色的能量分辨率 有效面積從30到1000mm2不等 PopTop的靈活性 的定時(shí)性能 可提供直徑大于36毫米的探測(cè)器 可配備特殊反...
型號(hào)：
所在地：
參考價(jià)：
面議更新時(shí)間：2025/7/25 15:53:18
對(duì)比
-
GWL（井）P型同軸輻射探測(cè)器
ORTECGWL系列高純鍺（HPGe）井型探測(cè)器是小樣品低水平計(jì)數(shù)的理想解決方案
型號(hào)：
所在地：
參考價(jià)：
面議更新時(shí)間：2025/7/25 15:51:38
對(duì)比
-
Gamma-X（GMX）N型高純鍺（HPGe）同軸輻射探測(cè)器
GAMMA-XN型同軸HPGe探測(cè)器適用于能量范圍為~3keV及以上的高性能伽馬能譜測(cè)量
型號(hào)：
所在地：
參考價(jià)：
面議更新時(shí)間：2025/7/25 15:49:38
對(duì)比
-
PROFILE GEM P型同軸和平面HPGe輻射探測(cè)器
ORTECPROFILE系列P型高純鍺（HPGe）探測(cè)器可根據(jù)您的應(yīng)用匹配晶體尺寸，從而提供的計(jì)數(shù)幾何形狀和結(jié)果
型號(hào)：
所在地：
參考價(jià)：
面議更新時(shí)間：2025/7/25 15:47:43
對(duì)比
