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    Q-Sense E4是一種檢測吸附在表面上的分子反應機制的實時分析儀器。當分子層在傳感器表面質(zhì)量發(fā)生變化或者結構發(fā)生改變時，E4可以測量分子層的變化。在材料、蛋白質(zhì)和表面活性劑等領域的研究中，Q-Sense E4設備起到了關鍵作用。

    從快速儀器入門使用，到高質(zhì)量數(shù)據(jù)分析，Q-Sense E4提供了一套完整的解決方案。儀器有四個流動模塊，每一個模塊都配備一個傳感器，可以進行四個平行測試。多種可選模塊，例如電化學QCM-D，可以進行聯(lián)用測試。我們的產(chǎn)品提供包括硬件、軟件、和讓您可以快速開始研究所需的介紹、培訓以及實驗結果解析。

    Q-Sense E4設備基于極其靈敏和快捷的技術，帶耗散因子檢測的石英晶體微天平(QCM-D)。該設備的核心是傳感器在加載電壓的作用下以特定頻率下振蕩。當傳感器上的質(zhì)量發(fā)生變化時，其振蕩頻率會隨之變化(1)。斷開電路會導致振蕩衰減。衰減速率或者耗散因子與傳感器上的分子層粘彈性有關(2)。通過測定頻率和耗散，QCM-D可以分析吸附在傳感器表面的分子層狀態(tài)，包括質(zhì)量、厚度和結構性質(zhì)(粘彈性)。

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