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產(chǎn)品簡介
X射線熒光鍍層測厚儀 Ux-720：Ux-720新一代國產(chǎn)專業(yè)鍍層厚度檢測儀，采用高分辨率的Si-PIN（或者SDD硅漂移探測器），測量精度和測量結(jié)果業(yè)界。 采用了FlexFP-Multi技術(shù)，無論是生產(chǎn)過程中的質(zhì)量控制，還是來料檢驗(yàn)和材料性能檢驗(yàn)中的隨機(jī)抽檢和全檢，我們都會(huì)提供友好的體驗(yàn)和滿足檢測的需求。
詳細(xì)介紹
X射線熒光鍍層測厚儀 Ux-720華唯
配置型號(hào) | 探測器 | X光管 | 高壓電源 |
Ux-720 M | AMPTEK Si-PIN X-123(進(jìn)口) | 上海科頤維（國產(chǎn)） | 咸陽威思曼(國產(chǎn)) |
Ux-720 H | AMPTEK Si-PIN X-123(進(jìn)口) | 上?？祁U維（國產(chǎn)） | spellman(進(jìn)口) |
Ux-720 S | AMPTEK SDD X-123(進(jìn)口) | 上?？祁U維（國產(chǎn)） | spellman(進(jìn)口) |
產(chǎn)品指標(biāo)：
測厚技術(shù)：X射線熒光測厚技術(shù)
測試樣品種類：金屬鍍層，合金鍍層
測量下限：0.003um
測量上限：30-50um(以材料元素判定)
測量層數(shù)：10層
測量用時(shí)：30-120秒
探測器類型：Si-PIN電制冷
探測器分辨率：145eV
高壓范圍：0-50Kv，50W
X光管參數(shù)：0-50Kv，50W，側(cè)窗類；
光管靶材：Mo靶；
濾光片：3種自動(dòng)切換；
CCD觀察：260萬像素
微移動(dòng)范圍：XY15mm
輸入電壓：AC220V，50/60Hz
測試環(huán)境：非真空條件
數(shù)據(jù)通訊：USB2.0模式
準(zhǔn)直器：?1mm，?2mm，?4mm
軟件方法：FlexFP-Mult
工作區(qū)：開放工作區(qū) 自定義
樣品腔：330×360×100mm
X射線熒光鍍層測厚儀 Ux-720產(chǎn)品介紹：
Ux-720新一代國產(chǎn)專業(yè)鍍層厚度檢測儀，采用高分辨率的Si-PIN(或者SDD硅漂移探測器)，測量精度和測量結(jié)果業(yè)界。
采用了FlexFP-Multi技術(shù)，無論是生產(chǎn)過程中的質(zhì)量控制，還是來料檢驗(yàn)和材料性能檢驗(yàn)中的隨機(jī)抽檢和全檢，我們都會(huì)提供友好的體驗(yàn)和滿足檢測的需求。
Ux-720微移動(dòng)平臺(tái)和高清CCD搭配，旋鈕調(diào)節(jié)設(shè)計(jì)在殼體外部，觀察移動(dòng)位置簡單方便。
X射線熒光技術(shù)測試鍍層厚度的應(yīng)用，提高了大批量生產(chǎn)電鍍產(chǎn)品的檢驗(yàn)條件，無損、快速和更準(zhǔn)確的特點(diǎn)，對在電子和半導(dǎo)體工業(yè)中品質(zhì)的提升有了檢驗(yàn)的保障。
Ux-720鍍層測厚儀采用了華唯技術(shù)FlexFp -Multi，不在受標(biāo)準(zhǔn)樣品的限制，在無鍍層標(biāo)樣的情況下直接可以測試樣品的鍍層厚度，測試結(jié)果經(jīng)得起科學(xué)驗(yàn)證。
樣品移動(dòng)設(shè)計(jì)為樣品腔外部調(diào)節(jié)，多點(diǎn)測試時(shí)移動(dòng)樣品方便快捷，有助于提升效率。
設(shè)計(jì)更科學(xué)，軟硬件配合，機(jī)電聯(lián)動(dòng)，輻射安全高于國標(biāo)GBZ115-2002要求。
軟件操作具有操作人員分級(jí)管理權(quán)限，一般操作員、主管使用不同的用戶名和密碼登陸，測試的記錄報(bào)告同時(shí)自動(dòng)添加測試人的登錄名稱。
Ux-720標(biāo)準(zhǔn)配件
樣品固定支架1支
窗口支撐薄膜：100張
保險(xiǎn)管：3支
計(jì)算機(jī)主機(jī)：品牌+雙核
顯示屏：19吋液晶
打印機(jī)：噴墨打印機(jī)
Ux-720可選配件
可升級(jí)為SDD探測器
可以實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)一鍵操作功能，準(zhǔn)直器自動(dòng)切換，濾光片自動(dòng)切換，開蓋隨意自動(dòng)停，樣品測試照片自動(dòng)拍照、自動(dòng)保存，測試報(bào)告自動(dòng)彈出，供應(yīng)商信息自動(dòng)篩選和保存