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詳細摘要： 低本底多道γ能譜儀RT-50，實驗室伽瑪射線能譜分析儀是專門設計用于監(jiān)測和檢測各種金屬材料、建筑材料、金屬制品、地質樣品、環(huán)境采樣樣品及食品中可能存在的放射性輻...

詳細摘要： 實驗室高純鍺HPGe伽馬γ能譜儀高純鍺伽馬能譜儀通常由：高純鍺探測器，譜儀，制冷器，鉛室，軟件等五部分組成。

詳細摘要： 半導體（高純鍺和Si（Li））探測器擁有精銳的能量分辨率，由其組成的γ和X射線能譜測量技術與產品，不僅是核結構、分子物理、原子碰撞等核物理與核反應研究的重要工具

詳細摘要： 精密脈沖發(fā)生器輸出脈沖幅度0-±1V可調，上升時間前面板選擇，下降時間常數（指數衰減時間）200µs或400µs溫度穩(wěn)定性：≤&#...

詳細摘要： 多道分析儀?獨立結構具有GATE, BUSY , PUR輸入ADC死時間（包括內存轉換時間）2µs微分非線性：≤±1%積分非線性：≤...

詳細摘要： 雙端口多道存儲器大分辨率：8192道，軟件選擇 8192, 4096, 2048, 1024或512道每事件死時間（包括內存轉換時間）8µs微分非線性...

詳細摘要： NIM機箱160W電源輸出電源/大電流 ±12V/2A，±24V/1A，117VAC/0.4A短路和過載保護輸出阻抗：0.3?（頻率100k...

詳細摘要： 0RTEC556電源高壓? 探測器偏壓電源，用于鍺或硅探測器輸出電壓：0-±5kV0-±500V（雙路輸出） 電流0-100µA輸...

詳細摘要： 高純鍺HPGe晶體 該晶體使用直拉法在晶體（100）方向延伸。圓柱形表面（表面光潔度小于2.5 μm RMS）。經紅外成像法檢測晶體結構穩(wěn)定可靠。晶體幾個結構由...

詳細摘要： 電荷靈敏放大器出：能量信號E口和定時信號T口噪聲探測器電容pF 典型值 保證值0 295rms 電子340rms 電子100450rms 電子

詳細摘要： 核電子學NIM機箱/電源插件 NIM機箱/96W電源（±12V, ±24V）輸出電源/大電流 ±12V/2A，±24V/...

詳細摘要： 前放 儀器主要包括：前置放大器、放大器、時間校準、單道脈沖分析器、計數/計時器和率表、延遲發(fā)生器、邏輯模塊和線性門、快速時間鑒別器、CAMAC ADC、高壓偏置...

詳細摘要： PMT前置放大器 儀器主要包括：前置放大器、放大器、時間校準、單道脈沖分析器、計數/計時器和率表、延遲發(fā)生器、邏輯模塊和線性門、快速時間鑒別器、CAMAC AD...

詳細摘要： 高純鍺HPGe伽馬γ能譜儀高純鍺伽馬能譜儀通常由：高純鍺探測器，譜儀，制冷器，鉛室，軟件等五部分組成。

詳細摘要： ORTEC四路低本底α/β計數器低本底α/β檢測儀是一種測量低水平α、β放射性強度的精密儀器?？捎糜谒?、食品、土壤、建材、礦石、氣溶膠、沉積物等樣品的總α、總β...

詳細摘要： ORTEC在alpha譜儀上采用超低本底和PIPS工藝（表面鈍化、離子注入、可擦洗）硅探測器，同時真空艙室也為超低本底材料。面積上提供300、450、490、6...

詳細摘要： GMX40-76-LB高純鍺（HPGe）伽馬γ能譜儀半導體（高純鍺和Si（Li））探測器擁有精銳的能量分辨率，由其組成的γ和X射線能譜測量技術與產品，不僅是核結...

詳細摘要： GEM-C7080-LB-C高純鍺（HPGe）伽馬γ能譜儀半導體（高純鍺和Si（Li））探測器擁有精銳的能量分辨率，由其組成的γ和X射線能譜測量技術與產品，不僅...

詳細摘要： 全自動低本底多道γ能譜儀RT-50，實驗室伽瑪射線能譜分析儀是專門設計用于監(jiān)測和檢測各種金屬材料、建筑材料、金屬制品、地質樣品、環(huán)境采樣樣品及食品中可能存在的放...

詳細摘要： GEM50-83-LB-C高純鍺（HPGe）伽馬γ能譜儀半導體（高純鍺和Si（Li））探測器擁有精銳的能量分辨率，由其組成的γ和X射線能譜測量技術與產品，不僅是...