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型號：HAD-WSP-51

HAD-WSP-51數(shù)字式四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量裝置，它可以測量片狀、塊狀半導體材料的電阻率，擴散層的薄層電阻（亦稱方塊電阻）。也可測柔性導電薄膜和玻璃等硬基底上導電膜的方塊電阻（簡稱方阻），換上四端子測試夾具，還可對電阻器體電阻、金屬導體的低、中值電阻以及開關類接觸電阻進行測量。

本測試儀可贈設電池供電，適合手持式變動場合操作！

儀器所有參數(shù)設定、功能轉換全部采用一旋鈕輸入；具有零位、滿度自校功能；自動轉換量程；測試探頭采用高耐磨碳化鎢探針制成，故定位準確、游移率小、壽命長；測試結果由數(shù)字表頭直接顯示。

三、基本參數(shù)

1. 測量范圍、分辨率

電    阻：     1.0×10-2 ～ 2000 Ω,    分辨率0.1×10-3 ～ 0.1×10  Ω

電 阻 率：     1.0×10-3～ 2000 Ω-cm  分辨率0.1×10-2 ～ 0.1  Ω-cm

方塊電阻：     1.0×10-3 ～ 2000Ω/□  分辨率1.0×10-1 ～ 0.1×10  Ω/□ 

2. 可測半導體材料尺寸（手持式）

直        徑：  測試臺直接測試方式 Φ15～130mm，其他方式不限.

長（或高）度：  測試臺直接測試方式 H≤160mm,    其他方式不限.

3. 量程劃分及誤差等級

4） 適配器工作電源：220V±10％, f=50Hz±4％,PW≤5W，或電池供電

5） 外形尺寸：W×H×L=18cm×7.5cm×13cm

凈   重：≤0.5kg