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技術(shù)文章
直流微電阻計與交流微電阻計測量和使用的區(qū)別
點擊次數(shù):3464 發(fā)布時間:2014-2-18
直流微電阻計與交流微電阻計測量和使用的區(qū)別,日本日置的交流微電阻計以HIOKI 3560和HIOKI3561為例,日本日置直流微電阻計以HIOKI 3540和HIOKI 3541為例。這樣交流微電阻計與直流微電阻計區(qū)別在下面表里反應(yīng)出來
測量原理 | 直流微電阻計(3540、3541) | 交流微電阻計3560、3561 |
測量原理 | 從主機輸出DC恒電流、確認被測量物(電阻)による電壓下降 | 從主機輸出AC恒電流、確認被測量物(電阻)引起的電壓下降 |
DC電流回路(蓄電池等)上AC電流不會有影響 | ||
電阻測量精度 | 比較高(zui高0.007%) | 若干低(zui高0.5%) |
熱起電力影響 | 有影響(3541能去掉)熱起電力發(fā)生多余電壓引起電阻計的精度低下 | 沒有 |
微電阻量程測量電流 | 比較大(3540是100mA、3541是1A)嫌惡大電流的元件(開關(guān)的氧化膜等)被破壞 | ?。?560是7.4mA、3561是10mA) |
測量原理 | 直流微電阻計(3540、3541) | 交流微電阻計3560、3561 |
測量原理 | 從主機輸出DC恒電流、確認被測量物(電阻)による電壓下降 | 從主機輸出AC恒電流、確認被測量物(電阻)引起的電壓下降 |
DC電流回路(蓄電池等)上AC電流不會有影響 | ||
電阻測量精度 | 比較高(zui高0.007%) | 若干低(zui高0.5%) |
熱起電力影響 | 有影響(3541能去掉)熱起電力發(fā)生多余電壓引起電阻計的精度低下 | 沒有 |
微電阻量程測量電流 | 比較大(3540是100mA、3541是1A)嫌惡大電流的元件(開關(guān)的氧化膜等)被破壞 | 小(3560是7.4mA、3561是10mA) |