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對(duì)于電壓擊穿試驗(yàn)儀的選擇不得不了解的幾個(gè)問(wèn)題？
對(duì)于電壓擊穿試驗(yàn)儀的選擇不得不了解的幾個(gè)問(wèn)題？
做一個(gè)產(chǎn)品不難，難在做精一個(gè)產(chǎn)品，生產(chǎn)電試驗(yàn)儀的產(chǎn)品的廠家不在少數(shù)。各有千秋？PLC控制的，ARM控制的。手動(dòng)控制的等。對(duì)于電壓擊穿試驗(yàn)儀的選擇不得不了解的以下幾個(gè)問(wèn)題？
一、 電壓擊穿試驗(yàn)儀在電磁干擾下如何保證長(zhǎng)期穩(wěn)定的工作；目前的電子元器件在長(zhǎng)期的電磁干擾情況下，其必然受到影響。如何處理；
二、無(wú)論是PLC還是電路板控制，又將如何處理其輸入控制高壓的之間的保護(hù)；因電路板或PLC晶體管輸入都大約在24V以下工作。雖然說(shuō)有光耦等其保護(hù)，但其高壓反饋及高壓電磁干擾下，顯得及其力不從心；
三、如何又保證，高壓放電等情況下的通訊正常及其保護(hù)；
四、電網(wǎng)電源的雜波干擾及電網(wǎng)污染的情況下，電子控制系統(tǒng)的穩(wěn)定性可想而知；在一種控制系統(tǒng)在供電不穩(wěn)的情況下，又將如何工作
五、材料擊穿瞬間的放電過(guò)程，同時(shí)夾雜著干擾勢(shì)必影響采集電穿的過(guò)程，又將如何保證擊穿瞬間電壓的真值。
六、、無(wú)論是失壓、門等一系的保護(hù)下。在控制單元萬(wàn)一失效的情況下，又將如何保證。