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鐵電分析儀 高壓功率放大器 塞貝克系數(shù)電阻測(cè)試儀 先進(jìn)功能材料電測(cè)綜合測(cè)試系統(tǒng)- 絕緣電阻劣化（離子遷移）評(píng)估系統(tǒng) 儲(chǔ)能新材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 半導(dǎo)體封裝材料真空探針臺(tái) 空間電荷測(cè)試系統(tǒng) 電容器溫度特性評(píng)估系統(tǒng) 高頻高壓絕緣電阻、介電 多通道極化裝置 絕緣電阻率測(cè)試儀 高低溫冷熱臺(tái)測(cè)試系統(tǒng) 50點(diǎn)耐壓測(cè)試儀 電壓擊穿測(cè)定儀 耐電弧試驗(yàn)儀 探針臺(tái) 漏電起痕試驗(yàn)儀 多通道介電與電阻測(cè)試系統(tǒng)
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壓電材料電場(chǎng)應(yīng)變特性的測(cè)試儀 激光測(cè)振儀 傳感器多功能綜合測(cè)試系統(tǒng) 先進(jìn)功能材料電測(cè)綜合測(cè)試系統(tǒng) 長(zhǎng)期耐腐蝕老化試驗(yàn)平臺(tái)- 高電場(chǎng)介電、損耗、漏電流測(cè)試系統(tǒng) 阻抗分析儀 鐵電綜合材料測(cè)試系統(tǒng) 鐵電分析儀 高壓功率放大器 D33壓電系數(shù)測(cè)試儀 高溫介電溫譜測(cè)試儀 熱釋電測(cè)試儀 TSDC熱刺激電流測(cè)試儀 高壓極化裝置 高低溫冷熱臺(tái) 簡(jiǎn)易探針臺(tái) 高溫四探針測(cè)試儀 多通道電流采集系統(tǒng) 高真空退火爐 電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 高溫管式爐測(cè)試儀 漆包線擊穿耐壓試驗(yàn)儀 電化學(xué)遷移測(cè)試系統(tǒng) 水平垂直燃燒測(cè)定機(jī) 陶瓷材料閃燒試驗(yàn)裝置 導(dǎo)通電評(píng)估系統(tǒng) 差熱分析儀 醫(yī)用接地電阻
差熱分析儀的基本原理
差熱分析儀的簡(jiǎn)圖如圖4.1-7所示。處在加熱爐和均熱塊內(nèi)的試樣和參比物在相同的條件下加熱或冷卻。爐溫的程序控制由控溫?zé)犭娕急O(jiān)控。試樣和參比物之間的溫差通常用對(duì)接的兩支熱電偶進(jìn)行測(cè)定。熱電偶的兩個(gè)接點(diǎn)分別與盛裝試樣和參比物的坩底部接觸，或者分別直接插入試樣和參比物中。由于熱電偶的電動(dòng)勢(shì)與試樣和參比物之間的溫差成正比，溫差電動(dòng)勢(shì)經(jīng)放大后由X-Y記錄儀直接把試樣和參比物之間的溫差△T記錄下來。在此同時(shí)，X-Y記錄儀也記錄下試樣的溫度（或時(shí)間t），這樣就可獲得差熱分析曲線即△T-T(t)圖。應(yīng)注意，在測(cè)定時(shí)所采用的參比物應(yīng)是惰性材料，即在測(cè)定的條件下不產(chǎn)生任何熱效應(yīng)的材料。
圖4.1-7 DTA儀簡(jiǎn)圖
（a)1-測(cè)量系統(tǒng)；2-加熱爐；3-溫度程序控制器；4-記錄儀
（b）1-測(cè)量系統(tǒng)；2-加熱器；3-均熱塊；4-訊號(hào)放大器；5-量程控制器；
6-記錄儀；”7-溫度程序控制器
試樣和參比物在相同條件下加熱或冷卻，如果試樣不產(chǎn)生任何熱效應(yīng)，試樣溫度Ts應(yīng)與參比物溫度Tr相等，即T=Ts-Tr=0,X-Y記錄儀不指示任何差示電動(dòng)勢(shì)。如果試樣發(fā)生響應(yīng)熱或放熱效應(yīng)，這時(shí)△T=Ts-Tr ,表示電動(dòng)勢(shì)小于或大于零，在X-Y記錄儀上可得到△T=f(T)的差熱曲線。由于現(xiàn)代差熱分析儀的檢測(cè)靈敏度是很高的，所以它能檢測(cè)試樣中所發(fā)生的各種物理和化學(xué)變化，如晶型的變化、比熱容、相變和分解反應(yīng)等。