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高溫四探針測試儀的測量原理及其優(yōu)勢簡析
高溫四探針測試儀采用四探針雙電測量方法，適用于生產企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗和分析導體材料和半導體材料在高溫、真空及氣氛條件下測量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示，無需人工計算，并帶有溫度補償功能。
高溫四探針測試儀的測量原理
測量電阻率的方法很多，如三探針法、電容-電壓法、擴展電阻法等,四探針法則是一種廣泛采用的標準準
法，儀器采用經(jīng)典直排四探針原理，同時采用了雙電測組合四探針法。
經(jīng)典的直排四探針法測試電阻率，要求使用等間距的探針，如果針間距離不等或探針有游移，就會造成實驗差。當被測片較小或在大片邊緣附近測量時，要求計入電場畸變的影響進行邊界修正。
采用雙電測組合四探針的出現(xiàn)，為提高薄膜電阻和體電阻率測量準確度創(chuàng)造了有利條件。
高溫四探針測試儀采用雙電測組合四探針法的優(yōu)勢
采用雙電測組合四探針法進行測試，測試結果與探針間距無關，能夠消除間距不等及針尖機械游移變化的影響，因此四探針測試臺允許使用不等距探針頭。
采用雙電測組合四探針法具有自動修正邊界效應的功能，對小尺寸被側片或探針在較大樣品邊緣附近時,不需要對樣品做幾何測量，也不需要尋找修正因子。
采用雙電測組合四探針法，不移動四探針針頭，同時使用三種模式測量，既可計算得到測試部位的電阻均勻性。