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高溫四探針測試儀的測量原理及其優(yōu)勢簡析

閱讀:4051        發(fā)布時間:2021/4/25
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   高溫四探針測試儀采用四探針雙電測量方法,適用于生產企業(yè)、高等院校、科研部門,是檢驗和分析導體材料和半導體材料在高溫、真空及氣氛條件下測量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示,無需人工計算,并帶有溫度補償功能。
  高溫四探針測試儀的測量原理
  測量電阻率的方法很多,如三探針法、電容-電壓法、擴展電阻法等,四探針法則是一種廣泛采用的標準準
  法,儀器采用經(jīng)典直排四探針原理,同時采用了雙電測組合四探針法。
  經(jīng)典的直排四探針法測試電阻率,要求使用等間距的探針,如果針間距離不等或探針有游移,就會造成實驗差。當被測片較小或在大片邊緣附近測量時,要求計入電場畸變的影響進行邊界修正。
  采用雙電測組合四探針的出現(xiàn),為提高薄膜電阻和體電阻率測量準確度創(chuàng)造了有利條件。
  高溫四探針測試儀采用雙電測組合四探針法的優(yōu)勢
  采用雙電測組合四探針法進行測試,測試結果與探針間距無關,能夠消除間距不等及針尖機械游移變化的影響,因此四探針測試臺允許使用不等距探針頭。
  采用雙電測組合四探針法具有自動修正邊界效應的功能,對小尺寸被側片或探針在較大樣品邊緣附近時,不需要對樣品做幾何測量,也不需要尋找修正因子。
  采用雙電測組合四探針法,不移動四探針針頭,同時使用三種模式測量,既可計算得到測試部位的電阻均勻性。

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