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鐵電分析儀 高壓功率放大器 塞貝克系數(shù)電阻測(cè)試儀 先進(jìn)功能材料電測(cè)綜合測(cè)試系統(tǒng)- 絕緣電阻劣化（離子遷移）評(píng)估系統(tǒng) 儲(chǔ)能新材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 半導(dǎo)體封裝材料真空探針臺(tái) 空間電荷測(cè)試系統(tǒng) 電容器溫度特性評(píng)估系統(tǒng) 高頻高壓絕緣電阻、介電 多通道極化裝置 絕緣電阻率測(cè)試儀 高低溫冷熱臺(tái)測(cè)試系統(tǒng) 50點(diǎn)耐壓測(cè)試儀 電壓擊穿測(cè)定儀 耐電弧試驗(yàn)儀 探針臺(tái) 漏電起痕試驗(yàn)儀 多通道介電與電阻測(cè)試系統(tǒng)
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壓電材料電場(chǎng)應(yīng)變特性的測(cè)試儀 激光測(cè)振儀 傳感器多功能綜合測(cè)試系統(tǒng) 先進(jìn)功能材料電測(cè)綜合測(cè)試系統(tǒng) 長(zhǎng)期耐腐蝕老化試驗(yàn)平臺(tái)- 高電場(chǎng)介電、損耗、漏電流測(cè)試系統(tǒng) 阻抗分析儀 鐵電綜合材料測(cè)試系統(tǒng) 鐵電分析儀 高壓功率放大器 D33壓電系數(shù)測(cè)試儀 高溫介電溫譜測(cè)試儀 熱釋電測(cè)試儀 TSDC熱刺激電流測(cè)試儀 高壓極化裝置 高低溫冷熱臺(tái) 簡(jiǎn)易探針臺(tái) 高溫四探針測(cè)試儀 多通道電流采集系統(tǒng) 高真空退火爐 電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 高溫管式爐測(cè)試儀 漆包線擊穿耐壓試驗(yàn)儀 電化學(xué)遷移測(cè)試系統(tǒng) 水平垂直燃燒測(cè)定機(jī) 陶瓷材料閃燒試驗(yàn)裝置 導(dǎo)通電評(píng)估系統(tǒng) 差熱分析儀 醫(yī)用接地電阻
電壓擊穿試驗(yàn)儀的選型常識(shí)
電壓擊穿試驗(yàn)儀的選型常識(shí)
1、如何選擇合適的測(cè)試電極:
測(cè)試電極的規(guī)格有很多，針對(duì)不同材料和規(guī)格選擇不同的電極尺寸，具體根據(jù)材料測(cè)式所要求的試標(biāo)準(zhǔn)，如果標(biāo)準(zhǔn)里沒(méi)有特殊要求，通
常測(cè)試板材類(lèi)的材料時(shí)使用多的測(cè)試電極是等徑和不等徑電極。
2、在空氣中和在油中做電壓擊穿試驗(yàn)有什么區(qū)別:
A:測(cè)試介質(zhì)空氣一是指把被測(cè)試樣和電極放置在空氣中做耐壓和擊穿實(shí)驗(yàn)。
B:測(cè)試介質(zhì)油一是指把被測(cè)試樣和電極放置在油中做耐壓和擊穿實(shí)驗(yàn)，通常使25#變壓器油做試驗(yàn)介質(zhì)。
C:無(wú)論在空氣中還是在油中做實(shí)驗(yàn)對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)沒(méi)有影響，如果被測(cè)樣品沒(méi)有特殊要求通常默認(rèn)在空氣中做實(shí)驗(yàn)，有網(wǎng)種情況需要在油中做
實(shí)驗(yàn)，一是標(biāo)準(zhǔn)里有規(guī)定，必須在油中做實(shí)驗(yàn)，二是在空氣中做實(shí)驗(yàn)時(shí)，被測(cè)試樣出現(xiàn)爬電、釋放電火花而導(dǎo)致無(wú)法擊穿時(shí)必須放置在油
中做實(shí)驗(yàn)。
試驗(yàn)方式
1、絕緣試樣空氣中擊穿或耐壓試驗(yàn)；
2、絕緣試樣浸油中擊穿或耐壓試驗(yàn)；
3、絕緣試樣空氣中階梯擊穿或耐壓試驗(yàn)；
4、絕緣試樣浸油中階梯擊穿或耐壓試驗(yàn)；
注:根據(jù)用戶要求，可定制其他試驗(yàn)方式。
擊穿的判斷
1.在電擊穿的同時(shí)，回路中電流增加和試樣兩端電壓下降。電流的增加可使斷路器跳開(kāi)或熔絲燒斷。但是有時(shí)也可由于閃路、試樣充電電流、漏電或局部放電電流、設(shè)備磁化電流或誤動(dòng)作而引起斷路器跳開(kāi)。因此，斷路器應(yīng)與試驗(yàn)設(shè)備及被試材料的特性相匹配。否則，斷路器可能會(huì)在試樣未擊穿時(shí)動(dòng)作或當(dāng)試樣擊穿時(shí)斷路器不動(dòng)作，這樣便不能正確地判斷出是否擊穿。即使在好的條件下，也存在周?chē)劫|(zhì)先擊穿的情況也會(huì)發(fā)生。因此，在實(shí)驗(yàn)過(guò)程中要注意觀察和檢測(cè)這些現(xiàn)象。
2.在垂直于材料表面方向試驗(yàn)時(shí)通常容易判新，無(wú)論通道是否充有碳粒，當(dāng)擊穿發(fā)生后用肉眼容易看到真正擊穿的通道。
3當(dāng)平行于材料表面方向試驗(yàn)時(shí)，要求判斷是由試樣破壞引起的擊穿現(xiàn)象還是由閃爍引起的失效，可以通過(guò)檢查試樣或使用再施加的電壓值為shou次擊穿電壓值的50%比較合適，然后用與shou次試驗(yàn)相同的方法升壓直到破壞。
華測(cè)儀器 之選
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