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華測高溫低電阻測試儀技術參數及采購必知
一、華測高溫低電阻測試儀功能特點：
█ 多功能真空加熱爐，一體爐膛設計、可實現(xiàn)、高溫、真 空、氣氛環(huán)境下進行測試
█ 采用鉑材料作為導線、以減少信號衰減、提高測試精度；
█ 可以測量半導體薄膜材、薄片材料的電阻、電阻率；
█ 可實現(xiàn)常溫、變溫、恒溫條件的I-V、R-T等測量功能;
█ 溫度傳感器、PID自動溫度控制，使測量溫度zhunque；
█ 儀器可自動計算試樣的電阻率pv;
█ 10寸觸摸屏設計，一體化設計機械結構，穩(wěn)定；
█ 程控電子升壓技術，紋波低、TVS防護系統(tǒng)，儀器性；
█ 99氧化鋁陶瓷絕緣、碳化鎢探針；
█ huace pro 控制分析軟件。
二、華測高溫低電阻測試儀技術參數：
1、溫度范圍：室溫-1000℃, （反射爐加溫 ）配水冷機；
2、控溫精度：（溫控） ±0 5℃ ；
3、測量精度： ± 0.25℃；
4、升溫斜率：20℃/min （可設定）；
5、降溫斜率： 1-200℃/min ( 自調整）；
6、測量精度：0.5%；
7、樣品規(guī)格：直徑： 20mm 以內；厚度： 5mm以內；
8、電材料：鉑金;
9、測量方式：2 線- 4線測量方式；
10、測量范圍： 0.1uΩ- 100MΩ
11、供 電：220V±10%，50Hz；
12、工作環(huán)境：0℃ - 55℃；
13、存儲條件:- 40℃-70℃；
14、尺 寸：750mmX660mmX360mm；
15、重 量： kg 25
產品型號 | 溫度范圍 | 設備功能 |
HGTZ-901 | 室溫-800C° | 單組試樣；片狀樣品；四探針法；薄膜或薄片狀樣品；真空、氣氛環(huán)境 |
HGTZ-902 | 室溫-1200C° | 單組試樣；片狀樣品；四探針法；薄膜或薄片狀樣品；真空、氣氛環(huán)境 |
HGTZ-903 | 室溫-1450C° | 單組試樣；片狀樣品；四探針法；薄膜或薄片狀樣品；真空、氣氛環(huán)境 |
