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高精度薄膜和薄片厚度測量儀
- 發(fā)布日期：
- 有效日期：
- 所 在 地：
- 產(chǎn) 地：
- 已獲點擊：
- 2025年5月24日
- 2026年10月16日
- 山東濟南市
- 濟南槐蔭區(qū)美里路
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【產(chǎn)品簡介】
適用于塑料薄膜、薄片、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度測量。濟南槐蔭區(qū)美里路
【詳細說明】
高精度薄膜和薄片厚度測量儀應用范圍
適用于塑料薄膜、薄片、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度測量。
主要特點
接觸式測量原理
測厚傳感器
觸摸屏操作
扁平化人機交互界面顯示
真彩色液晶顯示試驗數(shù)據(jù)、結果
手動、循環(huán)、預約定時多種測量模式
測試過程全自動完成
內(nèi)嵌zui大值、值、平均值、標準差數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析功能
本機內(nèi)置歷史數(shù)據(jù)查詢功能
配置微型打印機，可自動打印單次、統(tǒng)計報告
配置標準通信接口
可支持DSM實驗室數(shù)據(jù)管理系統(tǒng)，實現(xiàn)數(shù)據(jù)統(tǒng)一管理（選購）
技術指標
測量范圍：0～2mm（標配）
0～10mm（可選）
分 辨 率：0.1μm
測量速度：1~25次/min（可調(diào)）
測量 頭：薄膜：50mm2，17.5±1kPa（標配）
紙張：200mm2，50±1kPa（可選）
執(zhí)行標準
GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817
高精度薄膜和薄片厚度測量儀
產(chǎn)品配置
主機、薄膜測量頭、微型打印機、標準量塊一件
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