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詳細摘要： 3380 VLSI測試系統(tǒng)主要特色：?50/100 MHz 測試頻率?50/100 Mbps data rate?1024 I/O pins （Z高可至1280...

詳細摘要： 3360-P VLSI測試系統(tǒng)主要特色：?25/50 MHz 測試頻率?25/50 Mbps data rate?256 logic I/O pins?8M （...

詳細摘要： 3360-D VLSI測試系統(tǒng)主要特色：?50 MHz 測試頻率?32/64 個 I/O 通道?8M （標準） /16M （選購） Pattern 記憶體?彈性...

詳細摘要： 3360 VLSI測試系統(tǒng)主要特色：?50 MHz 測試頻率?608 個 I/O 通道?8M （標準） /16M （選購） Pattern 記憶體?彈性化硬體結(jié)...

詳細摘要： 3280 Test-In-Tray測試分類機主要特色：?整合SD卡測試機與自動分類機功能?平行測試120個micro SD卡?Test-In-Tray?UPH ...

詳細摘要： 3650-EX SoC/Analog 測試系統(tǒng)主要特色：?50/100MHz測試工作頻率?1024個 I/O 通道（I/O Channel）?32M （64M ...

詳細摘要： 3650-CX SoC測試系統(tǒng)主要特色：?50/100MHz測試工作頻率?256個 I/O 通道（I/O Channel）?16/32 MW vector 記憶...

詳細摘要： 3650 SoC 測試系統(tǒng)主要特色：?50/100MHz測試工作頻率?512個 I/O 通道（I/O Channel）?16M （32M Max.） Patte...

詳細摘要： 33010 High Speed PXIe Digital IO Card主要特色：?Standard PXIe-Hybrid [3U] compatible ...

詳細摘要： 3680 Advanced SoC/Analog Test System主要特色：?24 interchangeable slots for digital, ...

詳細摘要： 3160 4site終端測試分類機主要特色：?9K pcs 產(chǎn)能 （Model 3160 / 3160A ）?彈性的矩陣測試及指紋圖形測試 （3160F）?1~...

詳細摘要： 直流電源供應模組Model36020主要特色：?相容於PXI 3U/混合式PXI匯流排,4通道?+5V/-2V 及 +10V/-2V 兩種 force rang...

詳細摘要： 通用型機箱Model52100series主要特色：?低售價且高效能的 PXI 標準機箱?背板設(shè)計*符合 PXI / CompactPCI 規(guī)範?機箱架構(gòu)強化設(shè)...

詳細摘要： 可程控邏輯腳位模組 Model 36010主要特色：?相容於PXI 3U/混合式PXI匯流排?Date rateZ高為100MHz?8個per-pin, per...

詳細摘要： 高精準電源量測單元 Model 52400e series主要特色：?PXI Express Peripheral Module （x1 PCI Express...

詳細摘要： 高精準電源量測單元 Model 52400 series主要特色：?相容於混合式 PXI?四象限輸出?高精密/量測解析度（多重檔位）?低雜訊輸出?高速量測 （1...

詳細摘要： 電源供應模組 Model 52310e series主要特色：?4 組±7V 獨立通道, 脈衝Z大可達1A?20 位元量測分辨率?低噪音輸出?Z大取樣...

詳細摘要： PXI 可程式直流電源供應器 Model 52912/52914主要特色：?兩組獨立輸出源，每組輸出值為0 ~ 48Vdc/2A/60W （Z大）?正面面板連接...

詳細摘要： OLED 壽命週期測試系統(tǒng) Model 58131主要特色：獨立且精密的量測方式（PMU）?提供高精確度的電壓及電流?高精確度的量測能力?單一待測物故障自我控制...

詳細摘要： 移動式高加速壽命測試機系列 Model Portable System HawQ主要特色：?溫度范圍：+200°C TO -100°C?振動...