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　　BRUKER原子力顯微鏡的原理：
 

　　微懸臂梁對弱力非常敏感，一端固定，另一端設(shè)有一個微小的針尖。針尖輕輕接觸樣品表面。由于針尖原子與樣品表面原子之間的斥力很弱，通過控制掃描過程中的恒力，帶針尖的微懸臂梁將在垂直于樣品表面的方向上波動，對應于針尖和樣品表面原子之間的力的等勢面。通過光學檢測或隧道電流檢測，可以測量微懸臂梁相對于掃描點的位置變化，并獲得樣品表面形貌的信息。
 

　　原子力顯微鏡的工作模式以探針與樣品之間的力的形式進行分類。主要有三種操作模式：接觸模式、非接觸模式和敲擊模式。
 

　　BRUKER原子力顯微鏡的特點：
 

　　1、低漂移和低噪音水平。
 

　　2、配備專有的ScanAsys原子成像優(yōu)化技術(shù)，可輕松快速穩(wěn)定成像。
 

　　3、試樣直徑可達210mm，厚度可達15mm。
 

　　4、溫度補償位置傳感器將Z軸和X-Y軸的噪聲分別保持在亞埃級和埃級，并呈現(xiàn)出高分辨率。
 

　　5、新型XYZ閉環(huán)掃描頭在不損失圖像質(zhì)量的情況下大大提高了掃描速度。
 

　　6、探針和樣品臺的開放式設(shè)計使Icon能夠勝任各種標準和非標準實驗。
 

　　7、BrookeAFM的先進模式和技術(shù)，如高次諧波共振模式，以及無畸變高溫成像技術(shù)——采用同時加熱針尖和樣品的方法，以最小化針尖與樣品之間的溫差，避免成像失真。