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首頁(yè)>>上海爾迪儀器科技有限公司>>產(chǎn)品展示>>Bruker/布魯克

  • Bruker 全自動(dòng)原子力顯微鏡 InSight AFP 參考價(jià):面議

    bruker 全自動(dòng)原子力顯微鏡 InSight AFP——第五代AFP具有業(yè)界高的分辨率、快的成型速度和快速的3D模具映射
    型號(hào): 廠商性質(zhì):代理商所在地:上海市 對(duì)比
    InSight AFPBruker原子力顯微鏡布魯克
    2024/12/2 10:16:083822
  • Bruker VERTEX 70v 傅立葉變換紅外光譜儀 參考價(jià):面議

    Bruker VERTEX 70v 傅立葉變換紅外光譜儀VERTEX70v為要求嚴(yán)格的分析和研究應(yīng)用提供了超高性能。具創(chuàng)新意義的設(shè)計(jì)成就了該系列譜儀佳的靈活性和...
    型號(hào): 廠商性質(zhì):代理商所在地:上海市 對(duì)比
    BrukerVERTEX 70v紅外光譜儀傅立葉布魯克
    2024/12/2 10:10:324653
  • Bruker VERTEX 80/80v 傅立葉紅外光譜儀 參考價(jià):面議

    bruker VERTEX 80/80v 傅立葉變換紅外光譜儀VERTEX 80和VERTEX 80v真空FTIR光譜儀采用主動(dòng)準(zhǔn)直的 UltraScan&tr...
    型號(hào): 廠商性質(zhì):代理商所在地:上海市 對(duì)比
    Bruker傅立葉紅外光譜儀VERTEX 80VERTEX 80v
    2024/12/2 10:08:312958
  • bruker布魯克三維光學(xué)輪廓儀ContourX-100 參考價(jià):面議

    bruker布魯克三維光學(xué)輪廓儀ContourX-100具備高性?xún)r(jià)比的 ContourX-100 光學(xué)輪廓儀為可重復(fù)的、非接觸式表面測(cè)量樹(shù)立了新基準(zhǔn)。該系統(tǒng)占地...
    型號(hào): 廠商性質(zhì):代理商所在地:上海市 對(duì)比
    bruker布魯克三維光學(xué)輪廓儀白光干涉儀ContourX-100
    2024/12/2 10:06:363120
  • SNL-10探針 bruker 原子力顯微鏡探針 參考價(jià):面議

    SNL-10探針 bruker 原子力顯微鏡探針懸臂規(guī)范材料:氮化硅幾何:三角懸臂梁數(shù)量4懸臂厚度(Nom): 0.6pm懸臂厚度(RNG): 0.55 ~ 0...
    型號(hào): 廠商性質(zhì):代理商所在地:上海市 對(duì)比
    布魯克Bruker原子力顯微鏡AFMafm探針
    2024/12/2 9:36:483797
  • SCANASYST-AIR bruker afm探針 氮化硅針尖 參考價(jià):面議

    SCANASYST-AIR bruker afm探針 氮化硅針尖ScanAsyst®利用一種的曲線(xiàn)采集方法和復(fù)雜的算法,對(duì)圖像質(zhì)量進(jìn)行持續(xù)的監(jiān)測(cè),并能...
    型號(hào): 廠商性質(zhì):代理商所在地:上海市 對(duì)比
    bruker布魯克afm探針afm探針
    2024/12/2 9:34:362316
  • NCHV-A探針 bruker 原子力顯微鏡探針 參考價(jià):面議

    NCHV-A探針 bruker 原子力顯微鏡探針一組硅探針。數(shù)量為10用于TappingMode成像的Bruker's Value Li ne蝕刻硅探針TM在空...
    型號(hào): 廠商性質(zhì):代理商所在地:上海市 對(duì)比
    Bruker布魯克原子力顯微鏡AFMafm探針
    2024/12/2 9:32:452299
  • bruker布魯克納米紅外光譜nanoIR3 參考價(jià):面議

    bruker布魯克納米紅外光譜nanoIR3,是一款基于原子力顯微鏡(AFM)的納米表征工具。其采用光熱誘導(dǎo)共振技術(shù)(PTIR,也稱(chēng)AFM-IR),使紅外光譜的...
    型號(hào): 廠商性質(zhì):代理商所在地:上海市 對(duì)比
    bruker布魯克納米紅外光譜光譜儀
    2024/12/2 8:43:192951
  • bruker布魯克三維光學(xué)輪廓儀ContourX-200 參考價(jià):面議

    bruker布魯克三維光學(xué)輪廓儀ContourX-200融合了高級(jí)表征、可定制選項(xiàng)和易用性,可提供快速、準(zhǔn)確和可重復(fù)的非接觸式三維表面計(jì)量方法。該設(shè)備作為可用于...
    型號(hào): 廠商性質(zhì):代理商所在地:國(guó)外 對(duì)比
    布魯克Bruker三維光學(xué)表面輪廓儀3D分析儀器
    2024/12/2 7:13:213423
  • 布魯克納米壓痕Hysitron TI 980 參考價(jià):面議

    布魯克納米壓痕Hysitron TI 980同時(shí)具有靈活性、可靠性、可用性和速度。這臺(tái)行業(yè)系統(tǒng)以數(shù)十年的 Hysitron 技術(shù)創(chuàng)新為基礎(chǔ),在納米力學(xué)特性測(cè)試方...
    型號(hào): 廠商性質(zhì):代理商所在地:上海市 對(duì)比
    布魯克納米壓痕儀劃痕儀探針金剛石
    2024/12/2 7:11:503130
  • Bruker布魯克納米壓痕儀劃痕儀PI 89 參考價(jià):面議

    Bruker布魯克納米壓痕儀劃痕儀PI 89利用掃描電子顯微鏡(SEM、FIB/SEM)的成像能力,可以在成像的同時(shí)進(jìn)行定量納米力學(xué)測(cè)試。這套全新系統(tǒng)搭載 Br...
    型號(hào): 廠商性質(zhì):代理商所在地:國(guó)外 對(duì)比
    納米壓痕儀劃痕儀Bruker探針金剛石
    2024/12/2 7:09:493008
  • 布魯克BRUKER納米壓痕儀 參考價(jià):面議

    布魯克BRUKER納米壓痕儀TS 77 Select精選是自動(dòng)化臺(tái)式納米力學(xué)和納米摩擦測(cè)試系統(tǒng),可提供同類(lèi)儀器的性能、多功能和易用性。這種新型測(cè)試系統(tǒng)以布魯克的...
    型號(hào): TS 77 Sel... 廠商性質(zhì):代理商所在地:上海市 對(duì)比
    BRUKER納米壓痕儀劃痕儀探針金剛石
    2024/12/2 7:08:182866
  • BRUKER原子力顯微鏡 參考價(jià):面議

    為滿(mǎn)足AFM使用者對(duì)提高AFM使用效率的需求,Bruker開(kāi)發(fā)了BRUKER原子力顯微鏡Dimension FastScan,不降低分辨力,不增加設(shè)備復(fù)雜性,不...
    型號(hào): Dimension... 廠商性質(zhì):代理商所在地:上海市 對(duì)比
    BRUKER原子力顯微鏡AFM高分辨率探針
    2024/12/2 7:06:022870
  • 布魯克掃描探針顯微鏡Dimension XR 參考價(jià):面議

    布魯克掃描探針顯微鏡Dimension XR(SPM)系統(tǒng)攘括了原子力顯微鏡數(shù)十年來(lái)的研究和技術(shù)創(chuàng)新。通過(guò)常規(guī)的真原子相分辨率,以及一系列*的技術(shù),包括峰值力輕...
    型號(hào): 廠商性質(zhì):代理商所在地:國(guó)外 對(duì)比
    布魯克Bruker掃描探針顯微鏡納米力學(xué)SPM
    2024/12/2 7:04:242618
  • bruker生物型原子力顯微鏡 參考價(jià):面議

    bruker生物型原子力顯微鏡NanoWizard 4 XP特點(diǎn):·高分辨定量成像·150Hz快速掃描助力動(dòng)態(tài)變化過(guò)程研究·與精密...
    型號(hào): NanoWizar... 廠商性質(zhì):代理商所在地:國(guó)外 對(duì)比
    生物型原子力顯微鏡生物型原子力顯微鏡AFM布魯克
    2024/12/2 7:02:522871
  • 布魯克bruker掃描探針顯微鏡 參考價(jià):面議

    布魯克bruker掃描探針顯微鏡Innova SPM體積較小,成本適中,為科學(xué)研究提供了嚴(yán)謹(jǐn)而靈活的解決方案。其*的閉環(huán)掃描系統(tǒng)既確保了高的測(cè)試精度,又可以實(shí)現(xiàn)...
    型號(hào): Innova SP... 廠商性質(zhì):代理商所在地:國(guó)外 對(duì)比
    布魯克bruker掃描探針顯微鏡顯微鏡SPM
    2024/12/1 21:59:592297

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