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無(wú)錫市君達(dá)儀器有限公司
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CHY-CB紙張測(cè)厚儀CHY-CB測(cè)厚儀-塑料薄膜-紙張-鋁箔-高精度測(cè)厚儀
| 參考價(jià): | 面議 |
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)- CHY-CB紙張測(cè)厚儀 產(chǎn)品型號(hào)
- 品牌
- 其他 廠商性質(zhì)
- 無(wú)錫市 所在地
訪問(wèn)次數(shù)：1456更新時(shí)間：2025-02-16 12:16:44
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產(chǎn)品簡(jiǎn)介
嚴(yán)格按照標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)的接觸面積和測(cè)量壓力，同時(shí)支持各種非標(biāo)定制
產(chǎn)品介紹
CHY-CB測(cè)厚儀-塑料薄膜-紙張-鋁箔-高精度測(cè)厚儀單價(jià)41000元，
CHY-CB測(cè)厚儀采用接觸式測(cè)量方式，嚴(yán)格符合標(biāo)準(zhǔn)要求，有效保證了測(cè)試的規(guī)范性和準(zhǔn)確性。
嚴(yán)格按照標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)的接觸面積和測(cè)量壓力，同時(shí)支持各種非標(biāo)定制
測(cè)試過(guò)程中測(cè)量頭自動(dòng)升降，有效避免了人為因素造成的誤差
支持自動(dòng)和手動(dòng)兩種測(cè)量模式，方便用戶(hù)自主選擇
實(shí)時(shí)顯示測(cè)量結(jié)果的zui大值、zui小值、平均值以及標(biāo)準(zhǔn)偏差等分析數(shù)據(jù)，方便用戶(hù)進(jìn)行判斷
配置標(biāo)準(zhǔn)量塊用于系統(tǒng)標(biāo)定，保證測(cè)試的精度和數(shù)據(jù)*性
CHY-CB測(cè)厚儀
CHY-CB測(cè)厚儀采用了Labthink研發(fā)的嵌入式計(jì)算機(jī)系統(tǒng)平臺(tái)，其技術(shù)優(yōu)勢(shì)和用戶(hù)體驗(yàn)遠(yuǎn)超傳統(tǒng)的單片機(jī)技術(shù)。
一體化系統(tǒng)設(shè)計(jì)，采用嵌入式開(kāi)發(fā)技術(shù)將專(zhuān)業(yè)的檢測(cè)設(shè)備與控制軟件合二為一
控制系統(tǒng)從根本上杜絕了由計(jì)算機(jī)病毒、誤操作等引起的系統(tǒng)軟件故障，保證了設(shè)備運(yùn)行的可靠性與數(shù)據(jù)的安全性
系統(tǒng)搭配標(biāo)準(zhǔn)顯示器、鼠標(biāo)、鍵盤(pán)，采用Windows操作界面，方便用戶(hù)進(jìn)行試驗(yàn)操作及數(shù)據(jù)展示
系統(tǒng)內(nèi)嵌4個(gè)USB接口和2個(gè)網(wǎng)口，方便系統(tǒng)的外部接入和數(shù)據(jù)傳輸
CHY-CB測(cè)厚儀智能
CHY-CB測(cè)厚儀搭配了Labthink的操作軟件，具有人性化的操作界面和智能化的數(shù)據(jù)處理功能；同時(shí)，在局域網(wǎng)的環(huán)境中，還支持LystemTM實(shí)驗(yàn)室數(shù)據(jù)共享系統(tǒng)，統(tǒng)一管理試驗(yàn)結(jié)果和試驗(yàn)報(bào)告。
傳感器標(biāo)定智能提示，讓用戶(hù)放心使用
軟件內(nèi)嵌電子幫助文檔，方便用戶(hù)隨時(shí)查閱
系統(tǒng)支持中英文切換，方便不同語(yǔ)言的用戶(hù)使用
用戶(hù)多級(jí)權(quán)限管理，方便實(shí)驗(yàn)室管理人員規(guī)范設(shè)備使用
采用嵌入式數(shù)據(jù)庫(kù)存儲(chǔ)技術(shù)，保存每次試驗(yàn)的詳細(xì)信息，并提供方便、多樣的查詢(xún)功能，用戶(hù)可按曲線或數(shù)據(jù)列表等方式查看歷史試驗(yàn)數(shù)據(jù)
系統(tǒng)支持試驗(yàn)結(jié)果比對(duì)，用戶(hù)在試驗(yàn)開(kāi)始之前設(shè)置標(biāo)準(zhǔn)數(shù)值和誤差范圍，試驗(yàn)完成后系統(tǒng)自動(dòng)判斷各個(gè)試驗(yàn)結(jié)果是否在標(biāo)準(zhǔn)誤差范圍之內(nèi)，并直觀的告知用戶(hù)試樣是否合格
標(biāo)定數(shù)據(jù)恢復(fù)功能，有效解決了由誤操作帶來(lái)的不利影響，zui大限度地保證了系統(tǒng)工作的安全性；系統(tǒng)可按用戶(hù)的方式對(duì)關(guān)鍵信息數(shù)據(jù)進(jìn)行修復(fù)，如各傳感器的標(biāo)定數(shù)據(jù)恢復(fù)操作
通過(guò)搭配LystemTM實(shí)驗(yàn)室數(shù)據(jù)共享系統(tǒng)，試驗(yàn)數(shù)據(jù)與設(shè)備信息僅需簡(jiǎn)單設(shè)置與操作即可上報(bào)，輕松實(shí)現(xiàn)實(shí)驗(yàn)室測(cè)試數(shù)據(jù)的集中化和系統(tǒng)化管理
CHY-CB測(cè)厚儀測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817
CHY-CB測(cè)厚儀應(yīng)用
基礎(chǔ)應(yīng)用 | 薄膜薄片 | 適用于塑料薄膜、薄片的厚度測(cè)試 |
| 紙張 | 適用于紙張、紙板的厚度測(cè)試 | |
| 箔片、硅片、金屬片 | 適用于箔片、硅片、金屬片的厚度測(cè)試 | |
| 紡織、無(wú)紡布材料 | 適用于紡織材料的厚度測(cè)試 | |
| 固體電絕緣體 | 適用于固體電絕緣體的厚度測(cè)試 | |
擴(kuò)展應(yīng)用 | 量程擴(kuò)展至5，10mm | 適用于測(cè)試薄膜、片材的厚度 |
| 測(cè)量頭為曲面 | 滿(mǎn)足特殊場(chǎng)合的厚度測(cè)試 |
CHY-CB測(cè)厚儀技術(shù)指標(biāo)
測(cè)試范圍 0～2 mm（標(biāo)準(zhǔn)）；0～6 mm，12 mm（可選）
分辨率 0.1 μm
測(cè)量速度 10 次/min （可調(diào)）
測(cè)試壓力 17.5±1 kPa（薄膜）；50±1 kPa（紙張）
接觸面積 50 mm2（薄膜）；200 mm2（紙張）
注：薄膜、紙張任選一種；非標(biāo)可定制
外形尺寸 461mm（L）×334mm（W）×357mm（H）
電源 AC 220 V 50 Hz
凈重 37kg
CHY-CB測(cè)厚儀產(chǎn)品配置
CHY-CB測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)配置 主機(jī)、顯示器、鍵盤(pán)、鼠標(biāo)、標(biāo)準(zhǔn)量塊
CHY-CB測(cè)厚儀選購(gòu)件 測(cè)量頭、配重砝碼、打印機(jī)（需兼容標(biāo)準(zhǔn)PCL3打印命令語(yǔ)言）、LystemTM實(shí)驗(yàn)室數(shù)據(jù)共享系統(tǒng)
