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寬廣的測(cè)試范圍，可測(cè)試2~100um之間的顆粒只需要小小的樣品取樣量就可以得到高效率高精準(zhǔn)的顆粒數(shù)據(jù)。

• 可偵測(cè)到小粒徑2um的粒子
• 可自行設(shè)定的粒徑范圍2~100um，通過(guò)KE-40B1的控制器可擴(kuò)充至10個(gè)通道

出廠設(shè)定為8通道：≥2 μm, ≥3 μm, ≥5 μm, ≥7 μm, ≥10 μm, ≥25 μm, ≥50 μm, ≥100 μm

    (≥150 μm support available as option)

• 綜合泄漏傳感器與報(bào)警輸出
• KS-BF藍(lán)寶石材質(zhì)的毛細(xì)管耐腐蝕性更強(qiáng)
• 產(chǎn)品描述

• 偵測(cè)方式	光散射法
  光源	鐳射二極管（波長(zhǎng)830nm,輸出功率:200Mw）
  鐳射等級(jí)	Class1,IEC 60825-1
  光檢知器	PIN type photodiode
  與樣品接觸部件材質(zhì)	KS-4D: 石英、PFA、PTFE
  可測(cè)試樣品種類(lèi)	任何不會(huì)腐蝕接觸樣品部件材質(zhì)的液體
  校正	PSL 標(biāo)準(zhǔn)液（粒徑在1.6）
  粒徑范圍	2~100um
  8通道（出廠設(shè)定）	≥2 μm, ≥3 μm, ≥5 μm, ≥7 μm, ≥10 μm, ≥25 μm, ≥50 μm, ≥100 μm
  可測(cè)試范圍	2~100um（可自行擴(kuò)充至10個(gè)通道）
  偵測(cè)效率	70%~110%
  取樣量	10mL/min
  可測(cè)試粒子濃度	1200顆/mL
  樣品溫度范圍	15℃~35℃（毛細(xì)管內(nèi)無(wú)凝固、無(wú)結(jié)露）
  樣品測(cè)試壓力范圍	不超過(guò)300kPa (表壓)
  樣品進(jìn)出	2（直徑）*4（直徑）管路
  氣體清洗裝置	Rc1/8 ( 1/8PT female screw)
  數(shù)據(jù)傳輸及操作界面	傳輸至KE-40B1，直接觸摸屏操作無(wú)需外接電腦
  數(shù)據(jù)輸出方式	內(nèi)置打印機(jī)/記憶卡存儲(chǔ)
  泄露告警轉(zhuǎn)換	正常測(cè)試時(shí)告警端口短路，打開(kāi)檢測(cè)內(nèi)部泄露
  電源	DC 12V （由KE-40B1提供）
  測(cè)試環(huán)境條件	15~35℃，濕度不超過(guò)85%（無(wú)結(jié)露）
  尺寸&重量	125(H)*140(W)*150(D)mm (不含突出部分)， 約2.2kg
  工廠標(biāo)配	管路配件組合 *1，訊號(hào)線(1m)*1，電源線*1
  選配	訊號(hào)線 B (5m) KS-42-123