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X熒光分析儀的記錄系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)及原理
X熒光分析儀的記錄系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)及原理
記錄系統(tǒng)由放大器，脈沖高度分析器和記錄、顯示裝置組成。其中脈沖高度分析器是重要部件。
由檢測(cè)器將光信號(hào)轉(zhuǎn)換成電脈沖信號(hào)輸送到前置放大器，經(jīng)前置放大器預(yù)放大后再送至主放大器，經(jīng)放大后送入脈沖高度分析器，再顯示記錄或送入計(jì)算機(jī)。主放大器輸出的脈沖信號(hào)包括待測(cè)元素脈沖信號(hào)、噪聲及高次線脈沖信號(hào)。每一個(gè)電脈沖的幅度正比于X射線光子能量，但是實(shí)際上由每個(gè)入射光子所引起的離子對(duì)數(shù)并不是一個(gè)定值，而是在平均值上下波動(dòng)，因而電脈沖的幅度分布也隨之變動(dòng)。由于晶體衍射分光，同一元素不同級(jí)次的熒光X輻射，以及不同元素不同波長(zhǎng)的熒光X輻射，可能在同一掠角處同時(shí)被檢出。不同X射線的能量可以相差幾倍，在檢測(cè)器中產(chǎn)生的脈沖幅（高）度也有明顯差別。
脈沖高度分析器（Pulse height analyzer）就是采用脈沖甄別電路，通過(guò)設(shè)定基準(zhǔn)電壓和道寬電壓，使脈沖幅度在道寬電壓范圍內(nèi)的脈沖通過(guò)，其余脈沖被阻擋。將分析線脈沖信號(hào)從某些干擾線（如某一譜線的高次衍射線、晶體熒光或待測(cè)元素特征譜和高次線的逃逸峰）和散射線中分辨出來(lái)，在某種程度上可以消除干擾和降低背景，改善分析靈敏度和準(zhǔn)確度。
在波長(zhǎng)色散X射線熒光管譜儀中，入射到晶體的X射線波長(zhǎng)只要滿足布拉格定律就能被晶體衍射。因此即使波長(zhǎng)不同，只要滿足布拉格定律就能在同一衍射角下被衍射。所以除了n=1的一次線外，高次線X射線的波長(zhǎng)是待測(cè)元素特征譜波長(zhǎng)的1/2~1/5倍時(shí)也可被檢出。也就是說(shuō)，不同波長(zhǎng)的X射線將產(chǎn)生相應(yīng)的脈沖信號(hào)，一次線和高次線所產(chǎn)生的脈沖幅度是與其相應(yīng)的能量相對(duì)應(yīng)的。探測(cè)器輸出的電脈沖信號(hào)幅度與X射線能量成正比，就可以用電子學(xué)線路-脈沖高度分析器將其分離。