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鋼研納克檢測技術股份有限公司

波長色散X射線熒光光譜儀的原理和應用領域分析

時間:2019-8-22 閱讀:2963
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X 射線熒光分析技術(XRF)作為一種快速分析手段,為相關生產企業(yè)提供了一種檢測、篩選和控制有害元素含量的有效途徑;相對于其他分析方法,XRF 具有無需對樣品進行特別的化學處理、快速、方便、測量成本低等明顯優(yōu)勢,特別適合用于各類相關生產企業(yè)作為過程控制和檢測使用。
 
在科技部國家重大科學儀器專項(2012YQ050076)的支持下,鋼研納克針對金屬、建材、地質、環(huán)境、礦產等領域對無機元素分析技術的需求,先后攻克了X射線源、分光光路系統(tǒng)、探測器等關鍵技術,成功研制了順序式波長色散X射線熒光光譜儀——CNX-808。

波長色散型X射線熒光光譜儀(WD-XRF)是用晶體分光而后由探測器接受經過衍射的特征X射線信號。如果分光晶體和控測器做同步運動,不斷地改變衍射角,便可獲得樣品內各種元素所產生的特征X射線的波長及各個波長X射線的強度,可以據此進行特定分析和定量分析。 


應用領域:

地質樣品領域:針對地質領域壓片和熔片兩類樣品分別開發(fā)了應用方法體系,可以為地質研究、找礦提供可靠的檢測數據。

建材樣品領域:針對多種建材樣品的分析需求,建立了水泥、涂料等樣品應用方法體系,實現對樣品的高精度分析。

新材料樣品領域:能夠解決新材料研究領域寬幅、無損、全元素分布分析的難題。

生態(tài)環(huán)境領域:針對生態(tài)環(huán)境中的土壤、植物、水系沉積物、空氣顆粒物等樣品的分析需求,建立了整體的解決方案。通過研究不同時期形成的土壤層、沉積層中的有害重金屬元素含量分布特征,為環(huán)境評價提供可靠的指標參數。
 

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