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　　對(duì)于光伏行業(yè)、太陽(yáng)能行業(yè)來(lái)說(shuō)，紫外線(xiàn)老化試驗(yàn)箱有什么作用，它的試驗(yàn)有哪些意義呢?要說(shuō)這些，得先從光伏行業(yè)的測(cè)試要求說(shuō)起。以下是歐可儀器總結(jié)的十個(gè)紫外線(xiàn)老化試驗(yàn)箱在光伏行業(yè)的測(cè)試要求

　　一、IEC61646-10.1目視檢查(Visualinspectionprocedure)

　　目的：檢查模塊內(nèi)任何目視缺陷。

　　二、IEC61646-10.2標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試條件下之性能(PerformanceatSTC)

　　目的：用自然光或是*仿真器，在標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試條件下(電池溫度：25±2℃、照射度：1000wm^-2、標(biāo)準(zhǔn)太陽(yáng)光譜照射分布符合IEC891規(guī)定)，測(cè)試模塊隨負(fù)荷變化之電性能。

　　三、紫外線(xiàn)老化試驗(yàn)箱IEC61646-10.6NOCT下之性能(PerformanceatNOCT)

　　目的：當(dāng)標(biāo)稱(chēng)操作電池溫度與照射度為800Wm^-2時(shí)，在標(biāo)準(zhǔn)太陽(yáng)光譜照射分布條件下，確定模塊隨負(fù)荷變化之電性能。

　　四、IEC61646-10.7低照射度下之性能(Performanceatlowirradiance)

　　目的：在25℃與照射度為200Wm^-2(用適當(dāng)之基準(zhǔn)電池測(cè)定)之自然光或A類(lèi)仿真器，確定模塊隨負(fù)荷變化之電性能。

　　五、紫外線(xiàn)老化試驗(yàn)箱IEC61646-10.8戶(hù)外曝曬測(cè)試(Outdoorexposure)

　　目的：對(duì)于模塊于室外情況下之抵抗力做出不知評(píng)估，并顯示由實(shí)驗(yàn)是測(cè)試所無(wú)法偵測(cè)出之任何劣化之影響。

　　六、IEC61646-10.9熱班耐久測(cè)試(Hot-spottest)

　　目的：確定模塊承受熱班加熱效應(yīng)之能力，例如封裝材料老化、電池裂紋、內(nèi)部連結(jié)失效，局部被遮光或污邊均會(huì)引起這種缺陷。

　　七、紫外線(xiàn)老化試驗(yàn)箱IEC61646-10.10UV測(cè)試(UVtest)

　　目的：確認(rèn)模塊承受紫外線(xiàn)(UV)之照射之能力，新紫外線(xiàn)測(cè)試在IEC1345中描述，如有必要在進(jìn)行該測(cè)試前模塊應(yīng)進(jìn)行光。

　　八、IEC61646-10.11熱循環(huán)測(cè)試(Thermalcycling)

　　目的：確認(rèn)模塊抵抗由于溫度之重復(fù)變化所產(chǎn)生之熱不均勻性，疲勞及其它應(yīng)力之能力。在接收該測(cè)試之前，模塊應(yīng)進(jìn)行退火。[I-V測(cè)試前]是指退火后之測(cè)試，注意在進(jìn)行后I-V測(cè)試前，不要將模塊于光照下。

　　試驗(yàn)要求：

　　a.整個(gè)測(cè)試過(guò)程中，監(jiān)測(cè)每一個(gè)模塊內(nèi)部電連續(xù)性之儀器

　　b.監(jiān)測(cè)每一個(gè)模塊之一個(gè)隱現(xiàn)端和邊框或支撐架之間絕緣完整性

　　c.整個(gè)測(cè)試過(guò)程中紀(jì)錄模塊溫度，并監(jiān)測(cè)可能產(chǎn)生之任何開(kāi)路或接地失效(測(cè)試過(guò)程中無(wú)間歇開(kāi)路或接地失效)。

　　d..絕緣電阻需符合如初步量測(cè)之相同要求

　　九、IEC61646-10.12濕?凍循環(huán)測(cè)試(Humidityfreeze)

　　目的：測(cè)試模塊抵抗在高溫和高濕下，隨后之零下溫度之影響力，這并不是熱沖擊測(cè)試，在接收該測(cè)試前，模塊應(yīng)進(jìn)行退火，并經(jīng)受熱循環(huán)試驗(yàn)，[[I-V測(cè)試前]指的是熱循環(huán)后測(cè)試，注意在后I-V測(cè)試前，不要將模塊于光兆下。

　　試驗(yàn)要求：

　　a.整個(gè)測(cè)試過(guò)程中，監(jiān)測(cè)每一個(gè)模塊內(nèi)部電連續(xù)性之儀器

　　b.監(jiān)測(cè)每一個(gè)模塊之一個(gè)隱現(xiàn)端和邊框或支撐架之間絕緣完整性

　　c.整個(gè)測(cè)試過(guò)程中紀(jì)錄模塊溫度，并監(jiān)測(cè)可能產(chǎn)生之任何開(kāi)路或接地失效(測(cè)試過(guò)程中無(wú)間歇開(kāi)路或接地失效)。

　　d.絕緣電阻需符合如初步量測(cè)之相同要求

　　十、IEC61646-10.20濕漏電流測(cè)試(Wetleakagecurrent)

　　目的：評(píng)估模塊在濕操作條件下之絕緣性，并驗(yàn)證由雨、霧、露水或融化之雪水之濕氣不會(huì)進(jìn)入模塊電路之帶電部位，否則這可能會(huì)造成腐蝕、接地故障或安全上之危險(xiǎn)。