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X射線光電子能譜儀

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掃描俄歇納米探針參考價：面議
PHI 710掃描俄歇納米探針是一臺設(shè)計*的高性能的俄歇電子能譜（AES）儀器。該設(shè)備能分析納米級特征區(qū)域，超薄薄膜和多層結(jié)構(gòu)材料表界面的元素態(tài)和化學(xué)態(tài)信息。作...
型號： PHI 710 廠商性質(zhì)：生產(chǎn)商所在地：北京市對比

表面分析俄歇AESPHI

2022/3/7 11:11:44971

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