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參考價	面議

牛津儀器 Oxford

膜厚測試儀

XRF鍍層測量

線路板銅厚測量儀

鍍層測厚儀X-Strata920系列，屬于X射線熒光鍍層厚度測量儀，廣泛應(yīng)用于PCB、FPC、LED、SMT、連接器、端子、五金產(chǎn)品、汽車零部件、衛(wèi)浴潔具、珠寶等行業(yè)的表面鍍層厚度測量、材料分析；是各類電鍍產(chǎn)品鍍層厚度測量的理想檢測工具。

詳細(xì)介紹

鍍層測厚儀X-Strata920系列具有高性價價比，有著非破壞、非接觸、多合金測量、測量元素范圍廣、測量精準(zhǔn)、測量時間短等特點(diǎn)；具有高生產(chǎn)力、高再現(xiàn)性，能有效控制產(chǎn)品質(zhì)量，節(jié)約電鍍成本。

鍍層測厚儀X-Strata920工作特點(diǎn)：

測量精度高、穩(wěn)定性好，測量結(jié)果精確至μin
快速無損測量，測量時間短，10秒內(nèi)得出測量結(jié)果
可定性、半定量和定量分析
進(jìn)行貴金屬檢測，如Au karat評價
材料鑒別和分類檢測，材料和合金元素分析，元素光譜定性分析
強(qiáng)大的數(shù)據(jù)統(tǒng)計、處理功能：平均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差、相對標(biāo)準(zhǔn)偏差、zui大值、zui小值、數(shù)據(jù)變動范圍、數(shù)據(jù)編號、CP、CPK、控制上限圖、控制下限圖，數(shù)據(jù)分組、X-bar/R圖表、直方圖
結(jié)果輸出：直接打印或一鍵導(dǎo)出到PDF、Excel文件；報告包含數(shù)據(jù)、圖像、統(tǒng)計圖表、客戶信息等
測量位置預(yù)覽功能；高分辨率彩色CCD樣品觀察系統(tǒng)，標(biāo)準(zhǔn)光學(xué)放大倍數(shù)為30倍
激光對焦和自動對焦功能；單擊鼠標(biāo)，Z軸自動掃描，鐳射聚焦

儀器參數(shù)

型號	P920-S		P920-MWS	P920-MWM		P920-AM
名稱	半自動					自動臺
	固定臺		單準(zhǔn)直器加深臺	多準(zhǔn)直器加深臺
樣品圖片
測量元素范圍	Ti²²---U⁹²
鍍層和成分分析	鍍層：zui多同時測定5層（4層鍍層基體材料）鍍層成分：zui多同時測量25種元素
測量方法	SmartLink^âFP（基本參數(shù)法）儀器預(yù)裝超過800種應(yīng)用參數(shù)/方法簡單直觀步驟建立應(yīng)用
X射線激發(fā)	50kV、1.0mA(50W) 空冷式微聚焦W靶X射線管，Be窗垂直下照式X射線光學(xué)系統(tǒng) 安全防射線光閘二次濾波組件，可選三個程控交換的濾波器，有效于X射線重疊譜的修正
成像系統(tǒng)	彩色視頻系統(tǒng) 光學(xué)放大：30倍，可選項(xiàng)50倍數(shù)字放大200% 激光自動對焦被測樣品圖像實(shí)時顯示功能
計算機(jī)系統(tǒng)	In Core i3-3240 3.40GHz，內(nèi)存2G，硬盤500G，DVD光驅(qū) 17吋液晶彩色顯示器 Microsoft^TM Win7 32bit
樣品臺規(guī)格	測量樣品高度≤33mm	測量樣品高度≤160mm 樣品倉內(nèi)部尺寸（寬×深×高）：279×508×152mm 樣品倉抽屜式設(shè)計，4個位置上下可調(diào)，每格高度25.4mm 自定義樣品臺：可依據(jù)客戶要求提供更高的樣品臺，滿足樣品高度＞160mm的測量			測量樣品高度≤33mm X-Y軸行程：寬×深178×178mm 樣品臺尺寸：寬×深610×560mm 自動送樣，無人自動測量對樣品編程控制，自動多點(diǎn)測試和重復(fù)測試鼠標(biāo)控制樣品臺精確定位樣品
儀器外形寬×深×高	407×770×305mm	407×770×400mm			610×1037×375mm
Z軸	使用鼠標(biāo)控制，程控移動距離43mm
準(zhǔn)直器規(guī)格	可選單準(zhǔn)直器、多準(zhǔn)直器多準(zhǔn)直器程控交換可選園形、矩形準(zhǔn)直器園形準(zhǔn)直器：Ø0.1、Ø0.15、Ø0.2、Ø0.3、Ø0.33、Ø0.5mm 矩形準(zhǔn)直器：0.025x0.05、0.05x0.05、0.013x0.254、0.254x0.254、0.051x0.254、0.102x0.406mm 單準(zhǔn)直器標(biāo)配：Ø0.3mm 雙準(zhǔn)直器標(biāo)配：Ø0.1、Ø0.3mm 四準(zhǔn)直器標(biāo)配：Ø0.15、Ø0.3、0.05x0.05、0.051x0.254mm
探測器	正比例計數(shù)器
工作原理	對被測樣品發(fā)射一束一次X射線，樣品的原子吸收X射線的能量后被激發(fā)并釋放出二次X射線。每個化學(xué)元素會釋放出特定能量的X射線。通過測量這些釋放出的二次X射線的特征能量和強(qiáng)度，X射線分析儀就能夠?qū)Ρ粶y材料的鍍層厚度和成份提供定性和定量分析
安全性	自動鎖定功能，防止未授權(quán)的操作簡單用戶界面只向日常操作員設(shè)定有限的授權(quán) 主管人員可進(jìn)行系統(tǒng)維護(hù) 系統(tǒng)自動生成操作員的使用記錄 Z軸保護(hù)傳感器安全防射線光閘樣品室門開閉傳感器 X射線鎖 X射線警示燈緊急停止按鈕前面板安全鈕和后面板安全鎖
結(jié)果輸出	直接打印一鍵導(dǎo)出到PDF文件、Excel文件（選配）；自定義報告模板，報告包可含數(shù)據(jù)、圖像、統(tǒng)計圖表、客戶信息等；統(tǒng)計數(shù)據(jù)、圖、表含有平均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差、相對標(biāo)準(zhǔn)偏差、zui大值、zui小值、數(shù)據(jù)變動范圍、數(shù)據(jù)編號、CP、CPK、控制上限圖、控制下限圖，數(shù)據(jù)分組、X-bar/R圖表、直方圖等