高溫高壓導波雷達物位計的測量原理： 
高溫高壓導波雷達物位計是基于時間行程原理的測量儀表，發(fā)射能量很低的極短的微波脈沖通過天線系統(tǒng)發(fā)射并接收。雷達波以光速運行。運行時間可以通過電子部件轉換成物位信號。探頭發(fā)出高頻脈沖并沿纜式或桿式探頭傳導，當脈沖遇到物料表面時反射回來被儀表 內的接收器接收，并將距離信號轉化為物位信號。一種特殊的時間延伸方法可以確保極短時間內穩(wěn)定和的測量。即使工況情況比較復雜，存在虛假回波，用的微處理技術和調試軟件也可以準確的分析出物位的回波。 
1、輸入： 
反射的脈沖信號沿纜式或桿式探頭傳導至儀表電子線路部分，微處理器對此信號進行處理，識別 出微波脈沖在物料表面所產生的回波。正確的回波信號識別由智能軟件完成，距離物料表面的距離D與 脈沖的時間行程T成正比：D=C×T/2 其中C為光速因空罐的距離E已知，則物位L為：L=E-D； 
2、輸出： 
通過輸入空罐高度E（=零點），滿罐高度F（=滿量程）及一些應用參數(shù)來設定，應用參數(shù)將自動 使儀表適應測量環(huán)境。對應于4…20mA輸出； 
3、測量范圍： 
F-測量范圍；E-空罐距離；B-頂部盲區(qū)；H-探頭到罐壁的zui小距離 頂部盲區(qū)是指物料zui高料面與測量參考點之間的zui小距離。 底部盲區(qū)是指纜繩zui底部附近無法測量的一段距離。 頂部盲區(qū)和底部盲區(qū)之間是有效測量距離； 
4、注意：只有物料處于頂部盲區(qū)和底部盲區(qū)之間時，才能保證罐內物 位的可靠測量。 
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