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更新?lián)Q代檢測設(shè)備，選用OmniScan X3探傷儀的5個(gè)原因
OmniScan家族的新成員閃亮登場
信心滿滿，昭然可見！ 這是我們用于描述新款OmniScan X3探傷儀的詞語。這兩個(gè)詞語有何深意？ 它們恰當(dāng)?shù)孛枋隽诉@款OmniScan儀器的強(qiáng)大性能：用戶可以根據(jù)儀器屏幕上顯示的信息，充滿信心地做出正確的判讀。除了可以提供*、高度詳細(xì)的圖像之外，OmniScan X3探傷儀還配備有齊全的創(chuàng)新型模擬和可視化工具，可以使用戶在現(xiàn)場確認(rèn)并驗(yàn)證檢測情況。OmniScan X3不僅僅是OmniScan MX2的升級版儀器，它實(shí)際上是一款功能齊備的相控陣工具箱。得益于儀器的高級成像和分析能力，被測材料中的缺陷更加難以遁形。
更新?lián)Q代檢測設(shè)備，改用OmniScan X3探傷儀的5個(gè)原因：
1. 眼見為實(shí)：全聚焦方式（TFM）圖像具有很高的清晰度，可使用戶在檢測過程中大受裨益。OmniScan X3探傷儀的高級全聚焦方式（TFM）處理工具包括一個(gè)可以消除回波和偽影的實(shí)時(shí)包絡(luò)功能，從而增強(qiáng)了探測到難以發(fā)現(xiàn)的微小缺陷的性能，如：細(xì)小的高溫氫致（HTHA）缺陷。一旦看到了圖像，就很難駁斥其中顯示的結(jié)果。
未使用實(shí)時(shí)包絡(luò)功能：高溫氫致（HTHA）缺陷不太明顯
使用了實(shí)時(shí)包絡(luò)功能：高溫氫致（HTHA）缺陷明顯可見
2. 全角度覆蓋：通過全矩陣捕獲（FMC）數(shù)據(jù)生成的全聚焦方式（TFM）圖像不僅具有很高的分辨率，而且還可以正確反映工件的幾何形狀，從而可使用戶更輕松地了解缺陷在工件中的位置和方向。用戶還可以同時(shí)觀察4種不同傳播模式的全聚焦方式（TFM）圖像，并比較這些圖像。這個(gè)功能有助于用戶發(fā)現(xiàn)具有異常方向的缺陷。
3. 比較和確認(rèn)：新的高級軟件工具可在檢測之前、之中、之后為用戶提供更多的優(yōu)勢特性：
- 忘記了您的掃查計(jì)劃？ 沒有關(guān)系！我們可以在現(xiàn)場使用機(jī)載向?qū)?shí)時(shí)創(chuàng)建一個(gè)掃查計(jì)劃。聲束模擬器可以使用戶觀察到聲束，其中包括全聚焦方式（TFM）區(qū)域，并在現(xiàn)場根據(jù)需要對聲束進(jìn)行調(diào)整。掃查計(jì)劃中包含一個(gè)聲學(xué)影響圖（AIM）工具，這個(gè)工具所生成的模型會向用戶表明高探測靈敏度所在的區(qū)域，以及掃查覆蓋不到的區(qū)域。
- 在檢測過程中，可以使用“分屏”形式同時(shí)顯示多個(gè)視圖，從而可使用戶將多4種不同聲波傳播模式的結(jié)果進(jìn)行比較。這個(gè)功能有助于驗(yàn)證和表征所探測到的缺陷類型，并確定放置定量光標(biāo)的確切位置，從而可提高缺陷深度測量的準(zhǔn)確性。
- 在檢測之后，用戶可以使用OmniPC軟件對檢測數(shù)據(jù)進(jìn)行分析。如今，OmniPC軟件為用戶提供了在屏幕上同時(shí)顯示兩個(gè)不同的檢測文件并將文件進(jìn)行比較的選項(xiàng)。如果想要將焊縫每一側(cè)的視圖并排放在一起進(jìn)行觀察，或者需要對比在不同檢測時(shí)間采集的視圖而跟蹤缺陷的發(fā)展情況，則這個(gè)功能可以大顯身手。
4. 滿足用戶對速度的需求：多組顯示、較大的文件容量、800%的高波幅范圍以及簡化的菜單結(jié)構(gòu)，都有助于加速檢測進(jìn)程，而且加快檢測進(jìn)程的功能還不只這些。此外，得益于包括全聚焦方式（TFM）圖像在內(nèi)的一些高級、靈活的數(shù)據(jù)解讀工具，還可以更快地完成分析操作。
5. 大大地縮短了設(shè)置時(shí)間：擁有了可以更方便、更有效地配置儀器的多個(gè)功能，用戶可以立即投入到檢測工作中：
- 改進(jìn)的快速校準(zhǔn)：靈敏度、時(shí)間校正增益（TCG）
- 同時(shí)完成多組配置
- 對保存的設(shè)置進(jìn)行簡化的校準(zhǔn)驗(yàn)證
- 簡潔的衍射時(shí)差（TOFD）菜單去除了一些不必要的步驟