大平片光譜測試儀(手機(jī)屏IR孔測量等)

手機(jī)屏IR 油墨小孔測量專用

大平片光譜測試儀是專為手機(jī)屏IR 油墨小孔測量及液晶顯示屏、光學(xué)等制造行業(yè)的現(xiàn)場檢測和質(zhì)量控制設(shè)計的專用測試儀器。

儀器特點和功能

◆采用*的光、機(jī)、電、微計算機(jī)模快化設(shè)計,具有超群的性能和性價比，使操作更為簡便。

◆配置高性能“全息光柵"的低雜散光高分辨率的單色器,具有出眾的光學(xué)精度及測量準(zhǔn)確性。

◆儀器具有良好的穩(wěn)定性、重現(xiàn)性。

◆*的自動調(diào)校0%T和100%T等控制功能。

◆具有定波長測試、雙波長測試(550nm、850nm)及多波長測試和光譜掃描等功能。

◆ 儀器設(shè)計了可變狹縫及超小的測量孔徑，滿足客戶對各種樣品的需求。

◆ 可靠的斷電保護(hù)措施，可記憶測得數(shù)據(jù)、掃描圖譜、并實現(xiàn)了儀器快速初始化。

◆ 具有峰谷檢測以及平均值的求取等各種高級功能，可快速直接準(zhǔn)確的直讀數(shù)據(jù)。

◆ 儀器具有超大的樣品室，克服了傳統(tǒng)儀器無法測試尺寸較大樣品的缺陷，不需要將樣品裁剪成小的尺寸就可直接測試了。

◆ LCD數(shù)字顯示器可顯示透射比等參數(shù)以及波長讀數(shù)。

◆ 標(biāo)準(zhǔn)RS-232通訊接口(串口)，可通過XIN MAO用戶應(yīng)用軟件與電腦聯(lián)機(jī)，可實現(xiàn)光度測量、光譜掃描、定量測試、時間掃描及數(shù)據(jù)處理等功能，使分析工作更理想。

主要技術(shù)指標(biāo)：

◆ 波長范圍:325nm～1100nm

◆ 波長精度:±1nm

◆ 波長重復(fù)性:≤0.5nm

◆ 光譜帶寬:1.6nm(最小測量直徑Φ0.5mm)

2.7nm(最小測量直徑Φ0.7mm)

5.0nm(最小測量直徑Φ1.1mm)

6.6nm(最小測量直徑Φ1.4mm)

◆ 測 量 范 圍:0-125%T, -0.097-2.700A, 0-1999C

◆ 透射比準(zhǔn)確度:±0.5%(τ)

◆ 透射比重復(fù)性:≤0.2%(τ)

◆ 基線直線性:±0.004A

◆ 雜散光:≤0.3%T(340、420nm)

◆ 最大可測片:300mmx400mm

◆ 工作電壓:AC 100V~240V 50Hz/60Hz