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A-5003-4788雷尼紹加長桿測針技術參數(shù)
A-5003-4788雷尼紹加長桿測針技術參數(shù)TP200/TP200B測頭本體TP200采用微應變片傳感器，實現(xiàn)優(yōu)異的重復性和的三維輪廓測量，即使配用長測針時也不例外。傳感器技術提供亞微米級的重復性，并且消除了機械結構式測頭存在的各向異性問題。測頭采用成熟的ASIC電子元【詳細】
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A-50034785雷尼紹三坐標測針*
A-50034785雷尼紹三坐標測針*TP200/TP200B測頭本體TP200采用微應變片傳感器，實現(xiàn)優(yōu)異的重復性和的三維輪廓測量，即使配用長測針時也不例外。傳感器技術提供亞微米級的重復性，并且消除了機械結構式測頭存在的各向異性問題。測頭采用成熟的ASIC電子元件，確保【詳細】
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A-5003-4241雷尼紹三坐標測針工作原理
A-5003-4241雷尼紹三坐標測針工作原理TP200/TP200B測頭本體TP200采用微應變片傳感器，實現(xiàn)優(yōu)異的重復性和的三維輪廓測量，即使配用長測針時也不例外。傳感器技術提供亞微米級的重復性，并且消除了機械結構式測頭存在的各向異性問題。測頭采用成熟的ASIC電子元【詳細】
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A5003-0045雷尼紹RENISHAW三坐標測針
A5003-0045雷尼紹RENISHAW三坐標測針TP200/TP200B測頭本體TP200采用微應變片傳感器，實現(xiàn)優(yōu)異的重復性和的三維輪廓測量，即使配用長測針時也不例外。傳感器技術提供亞微米級的重復性，并且消除了機械結構式測頭存在的各向異性問題。測頭采用成熟的ASIC電子元【詳細】
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A5003-0042*英國雷尼紹測針
A5003-0042*英國雷尼紹測針TP200/TP200B測頭本體TP200采用微應變片傳感器，實現(xiàn)優(yōu)異的重復性和的三維輪廓測量，即使配用長測針時也不例外。傳感器技術提供亞微米級的重復性，并且消除了機械結構式測頭存在的各向異性問題。測頭采用成熟的ASIC電子元件，確保了【詳細】
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A-5003-0044雷尼紹RENISHAW技術參數(shù)
A-5003-0044雷尼紹RENISHAW技術參數(shù)TP200/TP200B測頭本體TP200采用微應變片傳感器，實現(xiàn)優(yōu)異的重復性和的三維輪廓測量，即使配用長測針時也不例外。傳感器技術提供亞微米級的重復性，并且消除了機械結構式測頭存在的各向異性問題。測頭采用成熟的ASIC電子元件【詳細】
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A-5003-0041*英國雷尼紹測針
A-5003-0041*英國雷尼紹測針TP200/TP200B測頭本體TP200采用微應變片傳感器，實現(xiàn)優(yōu)異的重復性和的三維輪廓測量，即使配用長測針時也不例外。傳感器技術提供亞微米級的重復性，并且消除了機械結構式測頭存在的各向異性問題。測頭采用成熟的ASIC電子元件，確保【詳細】
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A-5003-0039*雷尼紹三坐標測針
A-5003-0039*雷尼紹三坐標測針TP200/TP200B測頭本體TP200采用微應變片傳感器，實現(xiàn)優(yōu)異的重復性和的三維輪廓測量，即使配用長測針時也不例外。傳感器技術提供亞微米級的重復性，并且消除了機械結構式測頭存在的各向異性問題。測頭采用成熟的ASIC電子元件，確【詳細】
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A-50030043雷尼紹測針現(xiàn)貨
A-50030043雷尼紹測針現(xiàn)貨TP200/TP200B測頭本體TP200采用微應變片傳感器，實現(xiàn)優(yōu)異的重復性和的三維輪廓測量，即使配用長測針時也不例外。傳感器技術提供亞微米級的重復性，并且消除了機械結構式測頭存在的各向異性問題。測頭采用成熟的ASIC電子元件，確保了【詳細】
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A-5003-0038*雷尼紹測針
A-5003-0038*雷尼紹測針TP200/TP200B測頭本體TP200采用微應變片傳感器，實現(xiàn)優(yōu)異的重復性和的三維輪廓測量，即使配用長測針時也不例外。傳感器技術提供亞微米級的重復性，并且消除了機械結構式測頭存在的各向異性問題。測頭采用成熟的ASIC電子元件，確保了在【詳細】
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A-5003-0036英國雷尼紹renishaw測針
A-5003-0036英國雷尼紹renishaw測針TP200/TP200B測頭本體TP200采用微應變片傳感器，實現(xiàn)優(yōu)異的重復性和的三維輪廓測量，即使配用長測針時也不例外。傳感器技術提供亞微米級的重復性，并且消除了機械結構式測頭存在的各向異性問題。測頭采用成熟的ASIC電子元件【詳細】
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A-5003-0035雷尼紹RENISHAW測針
A-5003-0035雷尼紹RENISHAW測針TP200/TP200B測頭本體TP200采用微應變片傳感器，實現(xiàn)優(yōu)異的重復性和的三維輪廓測量，即使配用長測針時也不例外。傳感器技術提供亞微米級的重復性，并且消除了機械結構式測頭存在的各向異性問題。測頭采用成熟的ASIC電子元件，確【詳細】
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A-5000-8663雷尼紹測針工作原理
A-5000-8663雷尼紹測針工作原理TP200/TP200B測頭本體TP200采用微應變片傳感器，實現(xiàn)優(yōu)異的重復性和的三維輪廓測量，即使配用長測針時也不例外。傳感器技術提供亞微米級的重復性，并且消除了機械結構式測頭存在的各向異性問題。測頭采用成熟的ASIC電子元件，確【詳細】
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A-5003-0033*英國雷尼紹測針
A-5003-0033*英國雷尼紹測針TP200/TP200B測頭本體TP200采用微應變片傳感器，實現(xiàn)優(yōu)異的重復性和的三維輪廓測量，即使配用長測針時也不例外。傳感器技術提供亞微米級的重復性，并且消除了機械結構式測頭存在的各向異性問題。測頭采用成熟的ASIC電子元件，確保【詳細】
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A-5000-7808雷尼紹測針技術參數(shù)
A-5000-7808雷尼紹測針技術參數(shù)TP200/TP200B測頭本體TP200采用微應變片傳感器，實現(xiàn)優(yōu)異的重復性和的三維輪廓測量，即使配用長測針時也不例外。傳感器技術提供亞微米級的重復性，并且消除了機械結構式測頭存在的各向異性問題。測頭采用成熟的ASIC電子元件，確【詳細】
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A-5000-7801雷尼紹renishaw測針
A-5000-7801雷尼紹renishaw測針TP200/TP200B測頭本體TP200采用微應變片傳感器，實現(xiàn)優(yōu)異的重復性和的三維輪廓測量，即使配用長測針時也不例外。傳感器技術提供亞微米級的重復性，并且消除了機械結構式測頭存在的各向異性問題。測頭采用成熟的ASIC電子元件，確【詳細】
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A-5000-7805*雷尼紹加長桿測針
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A-5000-7800*英國雷尼紹三坐標測針
A-5000-7800*英國雷尼紹三坐標測針TP200/TP200B測頭本體TP200采用微應變片傳感器，實現(xiàn)優(yōu)異的重復性和的三維輪廓測量，即使配用長測針時也不例外。傳感器技術提供亞微米級的重復性，并且消除了機械結構式測頭存在的各向異性問題。測頭采用成熟的ASIC電子元件【詳細】
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A-5000-7803*英國雷尼紹三坐標測針
A-5000-7803*英國雷尼紹三坐標測針TP200/TP200B測頭本體TP200采用微應變片傳感器，實現(xiàn)優(yōu)異的重復性和的三維輪廓測量，即使配用長測針時也不例外。傳感器技術提供亞微米級的重復性，并且消除了機械結構式測頭存在的各向異性問題。測頭采用成熟的ASIC電子元件【詳細】
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A-5000-7807雷尼紹測針三坐標測針
A-5000-7807雷尼紹測針三坐標測針TP200/TP200B測頭本體TP200采用微應變片傳感器，實現(xiàn)優(yōu)異的重復性和的三維輪廓測量，即使配用長測針時也不例外。傳感器技術提供亞微米級的重復性，并且消除了機械結構式測頭存在的各向異性問題。測頭采用成熟的ASIC電子元件，【詳細】
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