產(chǎn)品簡(jiǎn)介
?模塊化力以及扭矩傳感器設(shè)計(jì),高載穩(wěn)定結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì), 適合科研以及工業(yè)的大范圍應(yīng)用。
?摩擦功能模塊化設(shè)計(jì)選項(xiàng)(可實(shí)現(xiàn)銷(xiāo)盤(pán)/球盤(pán)/盤(pán)盤(pán)/環(huán)環(huán)模式;高速線性往復(fù)模式;微動(dòng);Timken?環(huán)塊;四球模式等)。
?測(cè)試設(shè)備采用高強(qiáng)度落地式結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì),落地式高密度抗振降噪試驗(yàn)框架,具有在低載荷下本體剛度高降低本體噪聲,以及高載高頻下的優(yōu)異穩(wěn)定性。
?-60度至1000度溫
詳細(xì)介紹
對(duì)高的水平分辨率的測(cè)量技術(shù)要求,三維共聚焦技術(shù)要好于白光干涉技術(shù),(有溝槽)的檢測(cè),三維共聚焦有著zui高水平分辨率。我們提供白光干涉測(cè)量和三維共聚焦共用平臺(tái)的技術(shù)
1、三維共聚焦有著 zui高兩倍于白光干涉技術(shù)的溝槽傾斜角檢測(cè)(slope)的優(yōu)點(diǎn)
對(duì)于磨損形貌和磨損深度/寬度/體積檢測(cè)有著非常大的優(yōu)勢(shì)。
2、2、適用于從光滑到各種非常粗糙的加工表面(涂層,機(jī)加工等)。干涉方法由于要求進(jìn)光和反射光必須形成干涉條紋,對(duì)粗糙表面和低反射表面很容易丟失數(shù)據(jù)測(cè)不到。三維共聚焦用共焦面層層掃描的技術(shù),不會(huì)丟 失數(shù)據(jù)。
3、3、白光干涉技術(shù)有著zui高的垂直向分辨率,共聚焦技術(shù)有著zui高的水平分辨率,所以我們推薦技術(shù)的結(jié)合。
4、三維共聚焦可以檢測(cè)透明膜(DLC等),不受受干涉技術(shù)的限制
設(shè)備具有大工件平臺(tái)適用于實(shí)際零件、大的移動(dòng)位移可以貼接大的檢測(cè)表面。物鏡為日本(Nikon)尼康公司的干涉物鏡,為業(yè)界普遍采用。另外使用高像素5M攝像頭是實(shí)現(xiàn)高的水平分辨率的必要條件,我們有著業(yè)界zui高像素選配。
光源方面:
1、4色包括白光,紅光,綠光和藍(lán)光.
2、測(cè)試時(shí)可選用各種光源,其中藍(lán)光提供水平分辨率,白光提供垂直向分辨率.