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當(dāng)前位置：> 供求商機(jī)> uBeam-Duma微米級(jí)光斑分析儀，聚焦光斑測試儀
uBeam光束分析儀以用于實(shí)時(shí)測量和顯示亞微米范圍的激光聚焦光斑，因此也稱為聚焦光斑測試儀。屬于CCD型光束分析儀，其CCD面積3.2x2.4mm，波長范圍350~1310nm，像素~4x4μm，配合10倍到100倍物鏡放大，實(shí)際像素可以變成0.4μm到0.04μm，可以測量小至0.5um的光束。Duma微米級(jí)光斑分析儀，聚焦光斑測試儀
激光聚焦光斑由于尺寸小，光斑能量非常集中，功率密度超高而不好測量。DUMA通過加配物鏡的方法把光斑放大10X~100X，一方面擴(kuò)大了光斑尺寸，另一方面減小了功率密度，從而使聚焦光斑的測試有了可能。
uBeam是微米級(jí)光斑測試儀，能夠測量連續(xù)激光或脈沖激光，實(shí)時(shí)顯示亞微米范圍內(nèi)的激光特性，例如激光聚焦光斑或整形后的平頂光斑。配合配SAM3-HP光束取樣器，μBeam甚至可以測量幾百瓦激光器的聚焦光斑。μBeam最小的有效像素為0.04μm，能夠測量的最小光斑大概在0.5μm。
uBeam光斑分析儀規(guī)格參數(shù)
uBeam微米級(jí)光斑分析儀的主要特點(diǎn)和功能包括：
測量小于0.5µm光束（FWHM）
高分辨率CCD（80萬像素），CCD面積3.2x2.4mm，像素~4x4μm，波長范圍350~1310nm
µBeam-X-USB2.0 相機(jī)，USB2.0接口，物鏡，軟件
µBeam-X-SA 相機(jī)，顯示模塊，物鏡，軟件X
x10、x20、x50、x100等不同倍率的物鏡，有效像素最小0.04x0.04um
長工作距離、光學(xué)變焦。
uBeam微米級(jí)光斑分析儀的訂貨型號(hào)
Model µBeam-X-USB 2.0： 完整的聚焦光斑系統(tǒng)，x10、x20、x50、x100等不同倍率的物鏡
Model µBeam-X-SA:
X (Objective magnification) : x10，x20，x50，x100
Duma微米級(jí)光斑分析儀，聚焦光斑測試儀
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