使用方法

LCR測(cè)試儀一般用于測(cè)試電感和電容。測(cè)量步驟如下：設(shè)置測(cè)試頻率

測(cè)試電壓或者電流水平

選擇測(cè)試參數(shù)，比如Z、Q、LS（串聯(lián)電感）、LP（并聯(lián)電感）、CS（串聯(lián)電容）

儀器校準(zhǔn)，校準(zhǔn)主要進(jìn)行開路、短路校準(zhǔn)，的儀器要進(jìn)行負(fù)載校準(zhǔn)

選擇測(cè)試夾具

夾具補(bǔ)償

將DUT放在夾具上開始測(cè)試

分類

臺(tái)式LCR測(cè)試儀

便攜式LCR測(cè)試儀

原理

Vx與Vr均是電壓表，Rr是理想電阻。自平衡電橋的意思是：當(dāng)DUY（Device Under Test）接入電路時(shí)，放大器的負(fù)反饋配置自動(dòng)使得OP輸入端虛地。Vx準(zhǔn)確測(cè)定DUT兩端電壓（DUT的Low電位是0），Vr與Rr測(cè)得DUT電流Ix，由此可計(jì)算Zx。

HP4275的測(cè)試端Hp，Hc,Lp，Lc（下標(biāo)c代表current,下標(biāo)p代表Potentail）,Guard(接地)的配置可導(dǎo)致測(cè)試的誤差的差異。

提高精度的方法是（關(guān)鍵是分析Ix，要配合使用Guard與Cablezui小化回路面積）：

3，使用Gurard與Cable構(gòu)件地面中斷信號(hào)線間的電場(chǎng)連接，雖然會(huì)增加信號(hào)線的對(duì)地點(diǎn)容（對(duì)地電容不影響測(cè)試結(jié)果），但是會(huì)減少信號(hào)線的互容

    Guard與Cable的對(duì)地寄生阻抗（Zhg,Zlg），不影響測(cè)試結(jié)果，電橋平衡時(shí)ZIg的兩端電壓是0，流向Rr的電流不會(huì)被ZIg分流，Zhg的分流作用不影響Hp的電壓測(cè)量。