THz高萊盒探測器是一種基于熱釋電效應和氣體放電原理的輻射探測設備，主要用于檢測太赫茲波段的電磁波。
一、THz高萊盒探測器基本原理：
1.太赫茲波段特性
太赫茲波位于微波與紅外之間，具有穿透性（如對非極性材料）、低能量（不損傷生物組織）和光譜指紋特性，廣泛應用于成像、通信和傳感領域。
2.高萊盒核心原理
熱釋電效應：某些晶體在溫度變化時產生電荷，用于將吸收的輻射信號轉換為電信號。
氣體放電機制：
探測器內部填充惰性氣體（如氬氣、氙氣），并設有電極。
當太赫茲輻射被吸收時，氣體溫度升高，導致局部電離并引發(fā)放電電流。
電流大小與吸收的輻射強度成正比，通過電極收集并轉換為電信號。
3.結構設計
吸收腔：通常為錐形或拋物面結構，用于聚焦太赫茲波并增強吸收效率。
敏感元件：熱釋電晶體或氣體放電單元，負責將輻射能量轉化為可檢測的電信號。
讀出電路：包括前置放大器、濾波器和數據采集模塊，用于信號處理和輸出。
二、THz高萊盒探測器工作機制：
1.輻射吸收與加熱
太赫茲波通過光學窗口進入探測器，被吸收腔內的氣體或熱釋電材料吸收，導致局部溫度升高。
2.信號轉換
熱釋電模式：溫度變化引起晶體電荷分布變化，產生與輻射強度相關的電壓信號。
氣體放電模式：溫度升高導致氣體電離，放電電流被電極捕獲并轉換為電壓信號。
3.信號讀出與處理
微弱信號通過低噪聲放大器放大，經濾波和模數轉換后輸出，可用于實時監(jiān)測或數據分析。
三、THz高萊盒探測器技術特點：
1.高靈敏度
對太赫茲波段的輻射具有高吸收效率，可檢測低至微瓦級的功率。
2.寬動態(tài)范圍
通過優(yōu)化氣體壓力和電極設計，可檢測從弱信號到強信號的廣泛輻射強度。
3.室溫工作
無需低溫冷卻系統(tǒng)，依賴氣體放電或熱釋電效應在常溫下工作，降低設備復雜度。
4.快速響應
響應時間通常在毫秒級，適合動態(tài)場景（如太赫茲成像或通信）。
4
立即詢價
您提交后，專屬客服將第一時間為您服務