ZETA電位測量是一種用于測量顆粒表面電荷特性的技術。它是一種基于電動力學原理的測量方法，通過測量顆粒在電場中的移動速度來確定顆粒表面的電位。廣泛應用于顆粒表面性質研究、膠體穩(wěn)定性評價、生物醫(yī)學領域等領域。原理是基于顆粒在電場中的移動速度與其表面電位之間的關系。當顆粒處于電場中時，其表面會受到電場的作用而帶有電荷，這些電荷會影響顆粒在電場中的移動速度。根據(jù)電動力學原理，顆粒在電場中的移動速度與表面電位之間存在一定的關系，通過測量顆粒在電場中的移動速度，可以確定顆粒表面的電位。
ZETA電位測量通常使用動態(tài)光散射技術進行測量。在測量過程中，首先將待測顆粒懸浮在適當?shù)慕橘|中，然后施加電場，通過激光照射顆粒，測量顆粒在電場中的移動速度。根據(jù)測量得到的顆粒移動速度，結合電場強度和介質性質，可以計算出顆粒表面的ZETA電位。
ZETA電位測量在許多領域有著廣泛的應用。在顆粒表面性質研究中，可以用于研究顆粒的表面電荷特性、電雙層結構等，為顆粒的表面改性和功能化提供重要參考。在膠體穩(wěn)定性評價中，可以用于評價顆粒的分散性和穩(wěn)定性，為膠體體系的設計和優(yōu)化提供重要依據(jù)。在生物醫(yī)學領域，可以用于研究生物顆粒的表面電荷特性，對于藥物傳遞、細胞分離等具有重要的應用價值。
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