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中科院上海微系統(tǒng)所定制JKZC-LRT400冷熱臺(tái)成功交付
中國(guó)科學(xué)院上海微系統(tǒng)與信息技術(shù)研究所是我國(guó)著名的技術(shù)學(xué)科綜合性研究所之一，前身是成立于1928年的國(guó)立中央研究院工程研究所。自建國(guó)以來(lái)，上海微系統(tǒng)所已獲得獎(jiǎng)勵(lì)46項(xiàng)、部委省級(jí)獎(jiǎng)勵(lì)340余項(xiàng)。為國(guó)民經(jīng)濟(jì)發(fā)展、國(guó)家安全和社會(huì)進(jìn)步做出了重大貢獻(xiàn)。
本次交付的產(chǎn)品為探針冷熱臺(tái)JKZC-LRT400，該冷熱臺(tái)在實(shí)驗(yàn)中主要用于高阻材料在不同溫度變化下的電學(xué)測(cè)試。
現(xiàn)場(chǎng)交付圖
能提供從-190℃到600℃溫度范圍內(nèi)的精準(zhǔn)控制。
現(xiàn)場(chǎng)實(shí)驗(yàn)測(cè)試變溫電阻測(cè)試數(shù)據(jù)（二）
測(cè)試樣品為高阻材料，實(shí)驗(yàn)顯示隨溫度升高，材料電阻在高溫下驟降。在本次交付中，針對(duì)客戶(hù)需求，對(duì)配套軟件進(jìn)行了定制。
包含兩種測(cè)試模式：
①RT測(cè)試：樣品電阻隨溫度變化；
②數(shù)據(jù)時(shí)間譜測(cè)試：到達(dá)設(shè)定溫度后，樣品電阻隨時(shí)間變化。
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