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篤摯儀器（上海）有限公司
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高精度測(cè)量：Surtronic S-116 粗糙度儀能夠提供極其精確的測(cè)量結(jié)果，粗糙度標(biāo)準(zhǔn)（Ra）測(cè)量精度可達(dá) ±(2% + 0.004μm) ，工件或者元件表面（Ra）一次測(cè)量值精度為 ±3% 。這一高精度特性，使其能夠滿足對(duì)表面質(zhì)量要求高的行業(yè)，如精密軸承制造、航空航天零部件加工等，確保產(chǎn)品質(zhì)量符合嚴(yán)格的標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范。
豐富的測(cè)量參數(shù)：該儀器可測(cè)量多個(gè)粗糙度參數(shù)，包括 Ra（算術(shù)平均粗糙度）、Rv（輪廓最大谷深）、Rp（輪廓最大峰高）、Rz（十點(diǎn)高度粗糙度）、Rt（輪廓總高度）、Rq（均方根粗糙度）、Rsk（偏斜度）、Rmr（材料比）等 。在不同標(biāo)準(zhǔn)下，如 ISO、ASME、JIS 等，可測(cè)量的參數(shù)數(shù)量有所不同，最多可達(dá) 14 個(gè)參數(shù)，全面反映表面粗糙度特征，為用戶提供詳細(xì)、全面的表面質(zhì)量信息。
廣泛的測(cè)量范圍：測(cè)量范圍涵蓋 200μm / 100μm / 10μm，分辨率可達(dá) 100nm / 20nm / 10nm ，能適應(yīng)從粗糙表面到超精密表面的各種測(cè)量需求。無(wú)論是大型機(jī)械零部件的粗糙加工表面，還是光學(xué)鏡片、電子芯片等超精密元件的光滑表面，Surtronic S-116 都能準(zhǔn)確測(cè)量。
