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供應(yīng)標(biāo)準(zhǔn)試塊CSK-IIIA詳細(xì)介紹

CSK系列超聲波試塊

CSK系列超聲波試塊廣泛用于電力、石化、機(jī)械等行業(yè)的無(wú)損檢測(cè)

CSK-IA、CSK-IIA、CSK-IIIA、CSK-IVA、CSK-IB超聲波試塊，同時(shí)供應(yīng)CSK-IA試塊支架，CSK-IIIA試塊翻轉(zhuǎn)架、CSK-IB試塊支架。 

(1):CSK-IA是我國(guó)鍋爐和鋼制壓力容器對(duì)焊縫超聲波探傷JB1152-81標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的標(biāo)準(zhǔn)試塊，是基于IIW試塊改進(jìn)得到的。

①、臺(tái)階孔φ50、φ44、φ40，便于測(cè)定橫波斜探頭的分辨力；

②、R100、R50階梯圓弧，便于調(diào)整橫波掃描速度和探測(cè)范圍；

③、標(biāo)定的折射角開(kāi)為K值（K=tgβ），可直接測(cè)出橫波斜探頭的K值。

(2):CSK-IIA是國(guó)家行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)試塊，CSK-IIA適用于壁厚范圍為8-120mm的焊縫。

（3）CSK-IIIA超聲波標(biāo)準(zhǔn)試塊

型號(hào):CSK-IIIA
材質(zhì):20#
公稱尺寸:(mm)300×150×30
行位公差(國(guó)標(biāo)):±0.10×0.05×0.05
(⊥): ⊥＜0.05
(‖) :‖＜0.03
(Ra): Ra≤3.2
7-直徑1×6:行位公差±0.10
2-R10: 行位公差±0.10

V-1荷蘭試塊的詳細(xì)介紹

V-1荷蘭試塊

標(biāo)準(zhǔn)試塊   IS02400-1972E

IIW試塊（V-1試塊）也叫荷蘭試塊。是由焊接學(xué)會(huì)（IIW）通過(guò)，標(biāo)準(zhǔn)化組織（ISO）推薦使用的標(biāo)準(zhǔn)試塊。材質(zhì)：不銹鋼、鋁合金

使用要點(diǎn)：

1、 利用試塊厚25mm可測(cè)定探傷儀的動(dòng)態(tài)范圍、水平線性及調(diào)整縱波探測(cè)范圍

2、 利用Φ50和圓弧和Φ1.5通孔測(cè)定斜探頭折射角及縱波直探頭的靈敏度余量；還可粗略估計(jì)直探頭的盲區(qū)大小及測(cè)定儀器與探頭組合后的穿透能力

3、 利用R100mm圓弧面測(cè)定斜探頭的入射點(diǎn)和盲區(qū)，并可校正時(shí)間軸比例和零點(diǎn)。

4、 利用測(cè)距為85mm、91mm和100mm三個(gè)槽口平面可測(cè)定直探頭的縱向分辨力

5、 利用試塊的直角棱邊測(cè)定斜探頭聲束偏斜角

 RB-1、RB-2、RB-3為系列試塊，分別適合8-25、8-100和8-150mm的板厚，其標(biāo)準(zhǔn)反射體為Φ3mm×40mm的橫通孔

RB-1、RB-2、RB-3標(biāo)準(zhǔn)試塊 主要用途：

1、 繪制距離—波幅曲線

2、 調(diào)整探測(cè)范圍和掃描速度

3、 測(cè)定斜探頭的K值

CSK-IB試塊在原有CSK-IA的基礎(chǔ)上增加了測(cè)試探頭折射角的刻度面。主要用途：

1.利用R100曲面測(cè)定斜探頭的入射點(diǎn)和前沿長(zhǎng)度

2.利用Φ50和1.5mm圓孔測(cè)定斜探頭的折射角

3.利用試塊直角棱邊測(cè)定斜探頭聲束軸線的偏離情況

4.利用25mm厚度測(cè)定探傷儀水平線性、垂直線性和動(dòng)態(tài)范圍

5.利用25mm厚度調(diào)整縱波探測(cè)范圍和掃描速度

6.利用R50和100mm曲面調(diào)節(jié)橫波探測(cè)范圍和掃描速度

7.利用Φ50、44和40三個(gè)臺(tái)階孔測(cè)定斜探頭分辨力

超聲波探傷標(biāo)準(zhǔn)試塊  超聲波探傷標(biāo)準(zhǔn)試塊  超聲波探傷標(biāo)準(zhǔn)試塊