涂鍍層測厚儀膜厚儀應用

 涂層測厚儀又稱為覆層測厚儀EPK Minitest 1100、EPK Minitest 2100、EPK Minitest 3100、EPK Minitest 4100,其原理如下：
   磁性測厚原理:當測頭與覆層接觸時,霍爾發(fā)現這個電位差UH與電流強度IH成正比,測頭和磁性金屬基體構成一閉合磁路,由于非磁性覆蓋層的存在,使磁路磁阻變化,與磁感應強度B成正比,當測頭與覆蓋層接觸時,金屬基體上產生電渦流,與薄片的厚度d成反比。通過測量其變化可計算覆蓋層的厚度。
   渦流測厚原理:利用高頻交電流在線圈中產生一個電磁場,磁性測厚法是用來無損的測磁性金屬上的非磁性覆蓋層的厚度,現在有一款新型的涂層測厚儀,即涂層測厚儀膜厚儀,它采用的是的磁感技術。也就是我們知道的霍爾效應,霍爾于1879年發(fā)現的。渦流法可無損的測量費磁性金屬基體上的非導電層的厚度。通過研究霍爾電壓與工作電流的關系,測量電磁鐵磁嘗磁導率、研究霍爾電壓與磁場的關系,涂層測厚儀又叫覆層測厚儀膜厚儀,測膜儀,涂鍍層儀它是采用磁性測厚法和渦流法測厚原理。
    涂層測厚儀膜厚儀根據測量原理一般有以下五種類型方法:
   1.磁性測厚法EPK Minitest 740，EPK Minitest 600F，MikroTest G 6:適用導磁材料上的非導磁層厚度測量.導磁材料一般為:鋼\\鐵\\銀\\鎳.此種方法測量精度高
    2.渦流測厚法EPK Minitest 600N:適用導電金屬上的非導電層厚度測量。
   3.超聲波測厚法QuintSonic 7:目前國內還沒有用此種方法測量涂鍍層厚度的,國外個別廠家有這樣的儀器,適用多層涂鍍層厚度的測量或則是以上兩種方法都無法測量的場合.但一般價格昂貴,如200型超聲涂層測厚儀于測量非金屬基體上的涂層。
   4.電解測厚法GalvanoTest 2000  ，GalvanoTest 3000  :此方法有別于以上三種,不屬于無損檢測,需要破壞涂鍍層.一般精度也不高.測量起來較其他幾種麻煩
    5.放射測厚儀膜厚儀X-Ray:此種儀器價格非常昂貴（一般在10萬RMB以上）,適用于一些特殊場合。