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泰勒霍普森表面粗糙度儀DUO測量信息
閱讀：142 發(fā)布時間：2025-5-12測量原理
DUO 粗糙度儀運用接觸式測量原理，配備耐磨的金剛石測針部件與精密的機動驅動裝置。儀器運行時，測針在電機驅動下，以穩(wěn)定速度于被測物體表面移動，以此確保行進正確的水平距離。當測針劃過表面波峰與波谷時，高感應度的壓電傳感器能夠敏銳捕捉測針的垂直移動，并將機械移動轉化為電子信號。這些電子信號經數字化處理后，被傳送至微處理器，運用標準化算法即時計算出表面粗糙度參數。該測量方式不僅保障了測量的準確性，其堅固耐磨的金剛石測針與壓電傳感器組合，還確保了測量結果具備較高可靠性，能適應多種復雜測量場景。
DUO 粗糙度儀功能較為全面，只需輕松按下一鍵，就能快速測量多個關鍵的表面粗糙度參數，如 Ra（輪廓算術平均偏差）、Rz（微觀不平度十點高度）、Rp（輪廓最大峰高）、Rv（輪廓最大谷深）以及 Rt（輪廓最大高度）等。這些參數會清晰地顯示在儀器配備的 2.4 英寸直觀 LCD 彩色屏幕上，屏幕顯示亮度較高，即便在不同光線環(huán)境下，使用者也能清楚讀取測量數據，為現(xiàn)場測量工作帶來極大便利。