德國X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀
FISCHERSCOPE X-RAY XDL 240 X 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀，采用自動(dòng)方式，測量和分析印刷電路板、防護(hù)及裝飾性鍍層及大規(guī)模生產(chǎn)的零部件上的鍍層。
產(chǎn)品簡介
產(chǎn)品對(duì)比
德國X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀
簡介
FISCHERSCOPE X-RAY XDL 240 是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型 X 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。它非常適用于無損測量鍍層厚度、材料分析和溶液分析，同時(shí)還能全自動(dòng)檢測大規(guī)模生產(chǎn)的零部件及印刷線路板上的鍍層。
XDL 240 特別適用于客戶進(jìn)行質(zhì)量控制、進(jìn)料檢驗(yàn)和生產(chǎn)流程監(jiān)控。
典型的應(yīng)用領(lǐng)域有：
• 測量大規(guī)模生產(chǎn)的電鍍部件
• 測量超薄鍍層，例如：裝飾鉻
• 測量電子工業(yè)或半導(dǎo)體工業(yè)中的功能性鍍層
• 全自動(dòng)測量，如測量印刷線路板
• 分析電鍍?nèi)芤?/p>
