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X射線顯微鏡技術(shù)可應(yīng)用在多種研究領(lǐng)域
閱讀：1260 發(fā)布時(shí)間：2022-3-7
X射線顯微鏡是一種非侵入性和非破壞性成像技術(shù)，在不破壞樣品的情況下，利用X射線對(duì)樣品進(jìn)行掃描，能夠獲得掃描樣品的一個(gè)三維圖像，獲取內(nèi)部詳盡的三維結(jié)構(gòu)信息。在地學(xué)領(lǐng)域，在對(duì)表征和定量分析巖石孔隙結(jié)構(gòu)、測(cè)量滲流、研 究?jī)?chǔ)碳過(guò)程、分析尾礦、大化開(kāi)采效率、巖性礦物相分析方面具有其它設(shè)備無(wú)法替代的優(yōu)勢(shì)；對(duì)珍貴的實(shí)體化石以及其他巖石樣品的三維無(wú)損成像，在不破壞標(biāo)本的前提下，全面同時(shí)獲取化石或樣品的外觀形態(tài)和內(nèi)部結(jié)構(gòu)信息，并且可以實(shí)現(xiàn)化石形態(tài)和內(nèi)部結(jié)構(gòu)的三維可視化，幾乎可以用于所有門類古生物學(xué)的研究。此外，在生命科學(xué)、油氣地質(zhì)學(xué)、沉積學(xué)、考古學(xué)、材料科學(xué)和電子學(xué)領(lǐng)域也廣泛應(yīng)用。
X射線顯微鏡系統(tǒng)可以應(yīng)用于包括各類地質(zhì)、油氣研究用的巖石、煤炭、土壤在內(nèi)的各種樣品和結(jié)構(gòu)在亞微米尺度的三維成像和研究。所形成的三維立體圖像可以任意轉(zhuǎn)軸旋轉(zhuǎn)觀察,并可以做任意位置和任意方向的虛擬斷層展示和定量分析。
X射線顯微鏡主要特點(diǎn)：
◆對(duì)大/小樣品進(jìn)行高分辨率三維X射線成像；
◆顯微鏡設(shè)計(jì)使樣品距離X射線源有較大工作距離情況下具有高分辨率，這是進(jìn)行原位成像惡化大樣品成像的先決條件；
◆對(duì)同一個(gè)樣品進(jìn)行多尺度范圍成像，跨越很寬的放大倍率，至小達(dá)<0.7um的實(shí)際空間分辨率；
◆對(duì)低原子序數(shù)材料和生物樣品進(jìn)行高襯度的相位增強(qiáng)成像；
◆對(duì)樣品進(jìn)行無(wú)損成像，僅需簡(jiǎn)單甚至無(wú)需樣品制備；
◆提供各種原位輔助裝置，對(duì)實(shí)際大小的樣品（從毫米到數(shù)厘米）進(jìn)行亞微米成像，承重可達(dá)15kg；
X射線顯微鏡技術(shù)可應(yīng)用在多種研究領(lǐng)域，包括材料科學(xué)、地球科學(xué)、生命科學(xué)以及工業(yè)質(zhì)量和檢測(cè)等領(lǐng)域。在材料科學(xué)研究領(lǐng)域可將其應(yīng)用高分子材料、復(fù)合材料、陶瓷材料、建筑材料、金屬材料以及能源材料等多領(lǐng)域。