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詳細摘要：漫反射標準白板520-1是一款由高質(zhì)量的光學PTFE材料制成，使漫反射板幾乎Perfect的漫反射。它可以用于測量箔。有效面積尺寸為100毫米x100毫米。單面可以用于測量；你所要做的就是把你的物體放在表面上！

詳細摘要：漫反射標準白板520-1是一款由高質(zhì)量的光學PTFE材料制成，使漫反射板幾乎Perfect的漫反射。它可以用于測量箔。有效面積尺寸為100毫米x100毫米。單面可以用于測量；你所要做的就是把你的物體放在表面上！

詳細摘要：X射線晶體學和x射線粉末衍射方法與德拜相機或紅外相機一起使用，以產(chǎn)生可以建立各種材料結(jié)構(gòu)的照片。粒子加速器被越來越多地使用，更大的能量和控制可以為x射線的偏轉(zhuǎn)提供更多的撓度和散射定義。XRD分析用薄壁毛細管-硼硅/石英/特種玻璃毛細管為您的實驗研究

詳細摘要：S471高性能手持式能量/功率計是光度、輻射、激光功率和光纖測量的理想選擇。設計用于實驗室設置或現(xiàn)場環(huán)境，微處理器控制的體系結(jié)構(gòu)具有直接模擬顯示、串行RS-232輸出和模擬電壓輸出。

詳細摘要：Gamma Scientific LambdaMeter激光波長計能夠以+/-0.5nm的精度和+/-0.01nm的重復性解析波長。使用具有五個增益范圍和24位ADC的跨阻放大器實現(xiàn)高動態(tài)范圍。通過溫度穩(wěn)定探測器和光學濾波器實現(xiàn)巖石穩(wěn)定性和降低噪聲地板。

詳細摘要：Newport 2938-R雙通道高性能光功率和能量計通過高帶寬電子設計和高速數(shù)字處理，目前可實現(xiàn)高達 10 kHz 的速率測量速率，帶時間戳，并且在未來的固件更新中可能高達 100 kHz?？梢允褂枚喾N圖形、多種顏色設置和多種語言設置?？梢允褂酶呒壒δ?，例如縮放、模擬

詳細摘要：Newport 1938-R單通道高性能光功率和能量計通過高帶寬電子設計和高速數(shù)字處理，目前可實現(xiàn)高達 10 kHz 的速率測量速率，帶時間戳，并且在未來的固件更新中可能高達 100 kHz?？梢允褂枚喾N圖形、多種顏色設置和多種語言設置。可以使用高級功能，例如縮放、模擬

詳細摘要：Newport 1936-R單通道光功率計測量脈沖，峰峰值和直流電源等，測量可以以 W、dBm、dB、J、A 和 V 為單位顯示（具體取決于所使用的探測器類型）。
可測量脈沖峰峰值，采樣率為 250 kHz 時重復頻率最高可達 4 kHz。
1936-R和2936-R光功率計、能量計均

詳細摘要：脈沖，峰峰值和直流電源測量可以以 W、dBm、dB、J、A 和 V 為單位顯示（具體取決于所使用的探測器類型）。
可測量脈沖峰峰值，采樣率為 250 kHz 時重復頻率最高可達 4 kHz。
1936-R和2936-R光功率計、能量計均包括校準證書，方便的快速入門指南，22

詳細摘要：DigiDens T6R透反射黑白密度計，密度高達D=5.5 ，具有良好的重復性。無須再尋找合適的光線背光臺， 把樣品放在背光臺上測量即可。

詳細摘要：X射線晶體學和x射線粉末衍射方法與德拜相機或紅外相機一起使用，以產(chǎn)生可以建立各種材料結(jié)構(gòu)的照片。粒子加速器被越來越多地使用，更大的能量和控制可以為x射線的偏轉(zhuǎn)提供更多的撓度和散射定義，石英玻璃毛細管適用于高溫應用。X射線衍射儀用薄壁特種玻璃毛細

詳細摘要：Radiant piezoMEMS 分析儀不僅可以分析商品化的壓電開關和傳感器元件的壓電性能的，它將與產(chǎn)品的電子邏輯，與嵌入式微處理器通訊，提供異步電壓和脈沖，并測量傳感器頻率。

詳細摘要：EddyCus® map 2530RM電阻率測試儀在非接觸模式下自動測量大型樣品的薄層電阻，最大可達300×300平方毫米（12×12英寸）。在手動樣品定位時，該設備會自動測量并顯示整個樣品區(qū)域的薄層電阻的準確映射。測量設置允許輕松靈活地在低于

詳細摘要：EddyCus map C2C全自動電阻率成像系統(tǒng)用于晶圓襯底或外延片的全面積表征，以確保半導體行業(yè)的工藝可靠性和質(zhì)量保證。該系統(tǒng)配備了兩個在傳輸模式下工作的非接觸式渦流傳感器。這允許非常詳細地顯示基底材料或?qū)щ娡繉拥木鶆蛐?。該系統(tǒng)能夠測量薄膜的薄層電阻

詳細摘要：瑞士 PROCEQ Zonotip 超聲波測厚儀設計用于測量鐵和非鐵金屬以及由聚合物、玻璃、冰和其他低超聲波衰減的材料制成的部件的厚度。針對鋼的測量范圍為 0.7 毫米到 300 毫米。兩種不同的傳感器可供選擇：標準雙元件 4.0 MHz 傳感器和緊湊型單元件 2.5 MHz 傳感器

詳細摘要：PROCEQ Flaw Detector PA超聲波探傷儀可為技術人員提供非常全面的測量解決方案。包括所有*的缺陷分析技術,例如DGS、DAC、AVG、TGC和AWS，提供A，B，C，True Top 和 End scans的成像功能。

詳細摘要：PROCEQ Flaw Detector TOFD超聲波探傷儀可為技術人員提供非常全面的測量解決方案。包括所有*的缺陷分析技術,例如DGS、DAC、AVG、TGC和AWS，提供A，B，C，True Top 和 End scans的成像功能。

詳細摘要：PROCEQ UT8000便攜式超聲波探傷儀可為技術人員提供非常全面的測量解決方案。包括所有*的缺陷分析技術,例如DGS、DAC、AVG、TGC和AWS，提供A，B，C，True Top 和 End scans的成像功能。

詳細摘要：PROCEQ Flaw Detector 100UT超聲波探傷儀可為技術人員提供非常全面的測量解決方案。包括所有*的缺陷分析技術,例如DGS、DAC、AVG、TGC和AWS，提供A，B，C，True Top 和 End scans的成像功能。

詳細摘要：瑞士Zehntner ZRM 6006標線逆反射系數(shù)測量儀適合交通機關、施工廠商、路標漆制造。管理路面標線品質(zhì)、耐用年限、工程驗收。