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非標(biāo)定制高低溫試驗(yàn)箱

用途

設(shè)備主要是針對于電工、電子產(chǎn)品，以及其原器件，及其它材料在高溫、低溫的環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時的適應(yīng)性試驗(yàn)。本試驗(yàn)設(shè)備主要用于對產(chǎn)品按照國家標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶自定要求，在低溫、高溫、條件下，對產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬測試，測試后，通過檢測，來判斷產(chǎn)品的性能，是否仍然能夠符合預(yù)定要求，以便于產(chǎn)品設(shè)計(jì)、改進(jìn)、鑒定及出廠檢驗(yàn)用。

非標(biāo)定制高低溫試驗(yàn)箱

二.技術(shù)參數(shù)

機(jī)器型號   工作室尺寸        外形尺寸（深×寬×高mm）

JXGDW-50           320×350×450       790×800×1220

JXGDW-100          500×400×500      970×850×1320

JXGDW-150          500×500×600      980×932×1470

JXGDW-225          500×600×750       1003×1050×1570

JXGDW-250           520×620×780       1060×1080×1740

JXGDW-500          800×800×800      1282×1250×1380

JXGDW-800          800×1000×1000    1250×1500×1930

JXGDW-010         1000×1000×1000    1450×1500×1930

溫度范圍：0℃～150℃,A-20℃～150℃,B-40℃～150℃,C-60℃～150℃,D-70℃～150℃

溫度波動度≤±0.5℃

溫度均勻度≤±2℃

升溫速率2-3℃/min

降溫速率0.7-1℃/min

標(biāo)準(zhǔn)配置:觀察窗1個,測試孔1個,樣品架2層,

結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)簡介

1、設(shè)備外殼采用優(yōu)質(zhì)A3鋼板噴塑或304不銹鋼板

2、內(nèi)膽為SUS304優(yōu)質(zhì)不銹鋼板；2層304不銹鋼樣品架；

3、保溫材質(zhì):高密度玻璃纖維棉，使室內(nèi)溫度不會傳導(dǎo)到設(shè)備外部，確保實(shí)驗(yàn)室內(nèi)平衡穩(wěn)定的溫度；

4、觀察窗采用多層中空鋼化玻璃,內(nèi)側(cè)膠合片式導(dǎo)電膜，具有透明、隔熱、不易產(chǎn)生蒸汽結(jié)霜等優(yōu)點(diǎn)；

5、設(shè)備的門與箱體之間采用雙層耐高溫之高張性密封條以確保測試區(qū)的密閉。門框加熱系統(tǒng)確保無結(jié)霜和箱體外凝露現(xiàn)象。大門內(nèi)板材料為不銹鋼制成，并采用無反作用門把手，操作更容易；

控制系統(tǒng)

1、溫度控制儀采用日本富士儀表

2、操作簡單方便

3、精度：0.1℃(顯示范圍)；

4、解析度：±0.1℃；

5、感溫傳感器：PT100鉑金電阻測溫體；

高低溫試驗(yàn)箱設(shè)備符合標(biāo)準(zhǔn)

◆GB/T2423.1-2001 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法

◆GB/T2423.2-2001 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法

◆GB2424.1-89     電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則