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詳細(xì)摘要： 狄夫斯高PosiTector200超聲波涂層測厚儀無損測量多種涂層的厚度，包括玻璃、陶瓷、塑料、木材、混凝土等的表面涂層。有四種型號:200B/S、200B/A...

詳細(xì)摘要： BYK鉛筆硬度計(jì)5800屬于劃痕硬度測試儀器，是利用鋒利的邊緣在或其它粗糙的表面在涂層表面上劃痕，從而測試涂層的硬度.操作過程簡單。

詳細(xì)摘要： 畢克BYK PG-3430多用途干膜檢驗(yàn)儀是一個(gè)多功能測試儀器，可測量涂層厚度、附著力和涂層硬度。測試涂層厚度時(shí)，采用破壞性原理，割開漆膜直到看見底材，然后使用...

詳細(xì)摘要： 德國畢克BYK劃格器A-5122符合標(biāo)準(zhǔn)：ASTM D3002 D3359　DIN EN ISO 2409。BYK劃格器使用簡單，可根據(jù)涂膜的厚度選折不同的刀頭...

詳細(xì)摘要： 德國畢克BYK劃格器A-5120符合標(biāo)準(zhǔn)：ASTM D3002 D3359　DIN EN ISO 2409。BYK劃格器使用簡單，可根據(jù)涂膜的厚度選折不同的刀頭...

詳細(xì)摘要： 德國BYK光澤度儀測量適合于任何應(yīng)用，該產(chǎn)品能對任何材料進(jìn)行光澤測量－涂料、塑料、高放射的金屬。德國BYK光澤度儀測量范圍0-2000GU，保證了始終可靠的結(jié)果...

詳細(xì)摘要： 德國BYK公司便攜式微型光澤度計(jì)測量適合于任何應(yīng)用，該產(chǎn)品能對任何材料進(jìn)行光澤測量－涂料、塑料、高放射的金屬。德國BYK AG4332光澤度儀測量范圍0-200...

詳細(xì)摘要： QNix 8500數(shù)字測量系使用,統(tǒng)除了兼容多個(gè)型號的涂層測厚儀探頭外,還可通過簡單地更換探頭將涂層測厚儀轉(zhuǎn)變?yōu)槁饵c(diǎn)儀使用。德國尼克斯QNix8500露點(diǎn)儀探頭...

詳細(xì)摘要： QNix8500薄鍍層測厚儀，可以選配尼克斯薄鍍層MIFE500探頭，它是德國公司研發(fā)的、專門測量極薄的涂鍍層厚度的磁感應(yīng)探頭。它超高的測量精度和重復(fù)性為您測量...

詳細(xì)摘要： 尼克斯涂層測厚儀QNix8500一體分體通用，帶菜單操作，是一種智能化的測厚儀。可通過更換探頭來滿足不同的測量需求，可存儲數(shù)據(jù)，并且可與計(jì)算機(jī)進(jìn)行無線傳輸。QN...

詳細(xì)摘要： 德國尼克斯QNix7500鍍層測厚儀一體分體通用，成熟的測量系統(tǒng)，可互換可選探頭，來滿足不同的測量需求。QNix7500鍍層測厚儀探頭可直接與主機(jī)連接，進(jìn)行一體...

詳細(xì)摘要： 尼克斯Qnix1500膜厚儀兩用測厚儀,量程0-5000um。利用磁感應(yīng)原理測量鋼、鐵等磁性基體上的涂層、鍍層,也可利用渦流原理測量鋁、銅、不銹鋼等非磁性金屬表...

詳細(xì)摘要： 德國尼克斯Qnix1200涂鍍層測厚儀為磁性測厚儀，利用磁感應(yīng)原理測量鋼、鐵等磁性基體上的涂層、鍍層,一體式,只需調(diào)零，無需校準(zhǔn)，使用極其簡單。探頭為紅寶石固定...

詳細(xì)摘要： FMP20涂層測厚儀由于采用了磁感應(yīng)和電渦流兩種方法，F(xiàn)MP20具有自動(dòng)識別基材的功能，這臺通用型儀器可以測量鐵/鋼上、非磁性金屬基材上和非導(dǎo)電基材上眾多涂鍍層...

詳細(xì)摘要： FMP10涂層測厚儀根據(jù)DIN EN ISO 2178, ASTM B499標(biāo)準(zhǔn)的電磁感應(yīng)方法,測量鋼或鐵上的非鐵金屬鍍層、油漆、瓷漆或塑料涂層，F(xiàn)MP1O涂層...

詳細(xì)摘要： 菲希爾 PMP10涂層測厚儀可以測量需要各種幾何外形和鍍層厚度范圍的測試工件,在不需要全部測量數(shù)據(jù)存儲，評估和輸出.在測量探頭中儲存應(yīng)用程式特定的校準(zhǔn)參數(shù)，儀器...

詳細(xì)摘要： MPO涂層測厚儀測量范圍為0-2000 µm,*的雙面顯示,位于前部面板為一塊大的，另一塊位于上部面板,方便用戶從任何角度查看測量讀數(shù),允許方便地單手...

詳細(xì)摘要： 美國達(dá)考特PR-82汽車測厚儀是達(dá)考特生產(chǎn)*臺專業(yè)用于測量汽車的汽缸、汽門頭、滾輪壁、密封管、儀表面板、擋風(fēng)板的厚度。它利用現(xiàn)代數(shù)學(xué)技術(shù)能快速精確的測得出讀數(shù)。...

詳細(xì)摘要： 美國達(dá)高特CMX/CMXDL/CMXDL+超聲波測厚儀是美國DAKOTA公司開發(fā)的超聲波測厚儀，新系列產(chǎn)品有CMX/CMXDL/CMXDL+.用戶可根據(jù)需求選擇...

詳細(xì)摘要： 美國達(dá)考特MVX超聲波測厚儀方便攜帶,小巧靈活,顯示分辨率高,具有多種視場選擇，包括射頻顯示、檢波、時(shí)基B-掃描和大尺寸數(shù)顯,可調(diào)方波脈沖可滿足高分辨率和穿透深...